Analýza řízení kvality se zaměřením na neshodu ve vybrané firmě

• Main Author: Klon, Štěpán (Dissertant)
• Other Authors: Macurová, Lucie (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2018
• Subjects: OEE; FMEA; MTTR; MTBF; Ishikawa diagram; Výrobní proces; Production Proces; bakalářská práce
• Physical Description: 74 s. (63 410 znaků)