Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>

• Main Author: Martínek, Tomáš (Dissertant)
• Other Authors: Navrátil, Milan (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2013
• Subjects: Mikroskopie atomárních sil; skenovací mikrovlnná mikroskopie; metrologie; vizualizace; Atomic Force Microscopy; Scanning Microwave Microscopy; Metrology; Visualization; diplomová práce
• Physical Description: 57 s.