Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author	Martínek, Tomáš (Dissertant)
Other Authors	Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format	Manuscript Book
Language	Czech
Published	2013
Subjects	Mikroskopie atomárních sil skenovací mikrovlnná mikroskopie metrologie vizualizace Atomic Force Microscopy Scanning Microwave Microscopy Metrology Visualization diplomová práce
Online Access	Plný text v Digitální knihovně UTB
Physical Description	57 s.

Online Access

Plný text v Digitální knihovně UTB