Kontrola kvality vybraného softwarového produktu firmy Sun Microsystems Czech s.r.o.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Firich, Jan (Dissertant)
Other Authors: Stříž, Pavel (Thesis advisor)
Format: Manuscript
Language: English
Published: 2006
Subjects:
Bug
Physical Description: 96 s., 16 s. příloh

Cover