Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author Čechmánek, Michal (Dissertant)
Other Authors Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format Manuscript Book
LanguageCzech
Published 2009
Subjects
Online AccessPlný text v Digitální knihovně UTB
Physical Description71 s.

Cover