Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Čechmánek, Michal (Dissertant)
Other Authors: Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format: Manuscript
Language: Czech
Published: 2009
Subjects:
Physical Description: 71 s.

Cover