连接器测试装置、系统及生产工艺

本发明公开了一种连接器测试装置和包括该装置的系统，此外还公开了该装置的生产工艺，具有有效降低金属探针的阻抗泄露的优点。具体包括上针座和下针板以及多个金属探针，上针座开设有第一结构孔、第二结构孔和第三结构孔，下针板开设有第四结构孔、第五结构孔和第六结构孔，第二结构孔内灌入绝缘介质后开设有至少一个沿上下方向贯穿的第一安装通孔，第五结构孔内灌入绝缘介质后开设有至少一个沿上下方向贯穿的第二安装通孔，下针板固定于上针座的底部，第一结构孔和第四结构孔装入金属探针，第三结构孔与第六结构孔装入金属探针，第一安装通孔和第二安装通孔装入金属探针，金属探针的上端和下端分别穿出于上针座的顶部和底部。...

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Format Patent
LanguageChinese
Published 03.10.2025
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:本发明公开了一种连接器测试装置和包括该装置的系统，此外还公开了该装置的生产工艺，具有有效降低金属探针的阻抗泄露的优点。具体包括上针座和下针板以及多个金属探针，上针座开设有第一结构孔、第二结构孔和第三结构孔，下针板开设有第四结构孔、第五结构孔和第六结构孔，第二结构孔内灌入绝缘介质后开设有至少一个沿上下方向贯穿的第一安装通孔，第五结构孔内灌入绝缘介质后开设有至少一个沿上下方向贯穿的第二安装通孔，下针板固定于上针座的底部，第一结构孔和第四结构孔装入金属探针，第三结构孔与第六结构孔装入金属探针，第一安装通孔和第二安装通孔装入金属探针，金属探针的上端和下端分别穿出于上针座的顶部和底部。
Bibliography:Application Number: CN202510824279