ACOUSTIC INFLUENCE MAP BASED FLAW SIZE IMAGING

Examples of the present subject matter provide techniques to accurately size flaws using acoustic inspection without expending significant computing resources and time. Examples described herein include techniques to convert amplitude-based inspection images, such as TFM or phased array ultrasonic t...

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Main Author LEPAGE, BENOIT
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 14.07.2022
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Summary:Examples of the present subject matter provide techniques to accurately size flaws using acoustic inspection without expending significant computing resources and time. Examples described herein include techniques to convert amplitude-based inspection images, such as TFM or phased array ultrasonic testing (PAUT) images, into sizing images based on Acoustic Influence Maps (AIMs). Des exemples de l'objet de la présente invention concernent des techniques pour mesurer avec précision la taille de défauts à l'aide d'une inspection acoustique, sans dépense de ressources de calcul significatives et de temps. Des exemples décrits ici comprennent des techniques pour convertir des images d'inspection basées sur l'amplitude, telles que des images de focalisation en tout point TFM ou de test ultrasonore à éléments en phase (PAUT), en images de mesure de taille basées sur des cartes d'influence acoustique (AIM).
Bibliography:Application Number: CA20213206113