XRF能谱多重Sallen-Key平滑滤波方法及其在大米镉含量分析中的应用

TL84; 针对痕量核素测量时,特征峰容易部分或全部被背景掩盖,提出多重Sallen-Key(Multiple Sallen-Key,MSK)谱线处理技术,实现在高背景低含量X射线荧光光谱(X-Ray Fluorescence,XRF)分析中的应用.对MSK与多次高斯平滑的对比分析表明,在相同平滑效果下,MSK平滑次数更少,代码执行效率更高.对镉大米标准样的XRF实测谱线,做MSK平滑处理后,可以提高工作曲线的线性.将采用MSK方法分析所得的含量值,与采用GB5009.15-2014方法所得的含量值之间做误差分析,可得MSK处理方法能减小样品含量值的测量误差.本文提出的MSK技术可以有效抑制核...

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Published in核技术 Vol. 45; no. 2; pp. 25 - 31
Main Authors 陈伟, 周建斌, 方方, 洪旭, 万文杰, 喻杰, 王怀平
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 四川新先达测控技术有限公司 成都 610052 15.02.2022
成都工贸职业技术学院信息工程学院 成都 611731
成都理工大学核技术与自动化工程学院 成都 610059%成都理工大学核技术与自动化工程学院 成都 610059%成都理工大学核技术与自动化工程学院 成都 610059
Subjects
痕量分析;高背景;镉大米;MSK平滑;数字S-K滤波器
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ISSN0253-3219
DOI10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.020202

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Summary:TL84; 针对痕量核素测量时,特征峰容易部分或全部被背景掩盖,提出多重Sallen-Key(Multiple Sallen-Key,MSK)谱线处理技术,实现在高背景低含量X射线荧光光谱(X-Ray Fluorescence,XRF)分析中的应用.对MSK与多次高斯平滑的对比分析表明,在相同平滑效果下,MSK平滑次数更少,代码执行效率更高.对镉大米标准样的XRF实测谱线,做MSK平滑处理后,可以提高工作曲线的线性.将采用MSK方法分析所得的含量值,与采用GB5009.15-2014方法所得的含量值之间做误差分析,可得MSK处理方法能减小样品含量值的测量误差.本文提出的MSK技术可以有效抑制核能谱中的噪声,提高痕量核素含量的测量精度.
ISSN:0253-3219
DOI:10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.020202