应用微束分析技术研究铜钴矿床中钴的赋存状态

O657.63; 微束分析技术能够在微米-纳米尺度上精确分析矿石矿物的物相、形貌、结构、成分以及同位素组成,为地球科学精细研究提供重要技术支撑.本文利用多种微束分析技术的自身优势,综合运用微区X射线荧光光谱(micro-XRF)、偏光显微镜、电子探针(EPMA)以及激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)分析技术,建立了一种简单直观且全面快速鉴别钴赋存状态的技术方法.首先采用偏光显微镜选出部分代表性的探针片,然后进行微区X射线荧光光谱面扫描,获得探针片中钴及组合元素分布规律及特征,再利用偏光显微镜细致观察鉴别,结合元素分布特征规律识别出独立钴矿物以及含钴矿物,最后圈出代表性矿物并采用...

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Published in岩矿测试 Vol. 41; no. 2; pp. 226 - 238
Main Authors 涂家润, 卢宜冠, 孙凯, 周红英, 郭虎, 崔玉荣, 耿建珍, 李国占
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国地质调查局华北地质科技创新中心,天津300170%中国地质调查局天津地质调查中心,天津300170 2022
中国地质调查局东部南部非洲地学合作研究中心,天津300170
中国地质调查局天津地质调查中心,天津300170
中国地质调查局华北地质科技创新中心,天津300170
Subjects
微束分析;赋存状态;铜钴矿床;面扫描;微区X射线荧光光谱法;激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法
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ISSN0254-5357
DOI10.15898/j.cnki.11-2131/td.202112060194

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Summary:O657.63; 微束分析技术能够在微米-纳米尺度上精确分析矿石矿物的物相、形貌、结构、成分以及同位素组成,为地球科学精细研究提供重要技术支撑.本文利用多种微束分析技术的自身优势,综合运用微区X射线荧光光谱(micro-XRF)、偏光显微镜、电子探针(EPMA)以及激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)分析技术,建立了一种简单直观且全面快速鉴别钴赋存状态的技术方法.首先采用偏光显微镜选出部分代表性的探针片,然后进行微区X射线荧光光谱面扫描,获得探针片中钴及组合元素分布规律及特征,再利用偏光显微镜细致观察鉴别,结合元素分布特征规律识别出独立钴矿物以及含钴矿物,最后圈出代表性矿物并采用电子探针和LA-ICP-MS进行主微量化学成分测定.将该方法应用于中非铜钴成矿带上典型铜钴矿床中钴的赋存状态研究,查明了谦比希东南矿体中的钴主要以独立矿物(钴镍黄铁矿、硫钴矿、硫铜钴矿)和类质同象(主要赋存于黄铁矿、磁黄铁矿中)两种形式存在,而谦比希西矿体中的钴主要以独立矿物——硫铜钴矿的形式零星存在.
ISSN:0254-5357
DOI:10.15898/j.cnki.11-2131/td.202112060194