拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化

• Published in: Guang Dian Gong Cheng = Opto-Electronic Engineering Vol. 45; no. 5; pp. 170638 - 35
• Main Authors: 罗倩, 吴时彬, 汪利华, 杨伟, 范斌 / Luo Qian, Wu, Shibin, Wang, Lihua, Yang, Wei, Fan, Bin
• Format: Journal Article
• Language: Chinese; English
• Published: Chengdu Editorial Office of Opto-Electronic Advances 01.05.2018; 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209; 中国科学院大学,北京 100049%中国科学院光电技术研究所,四川 成都,610209
• Subjects: Algorithms; Apertures; Mathematical models; Optics; Stitching; Test procedures; Beijing China; China; 数学建模; interferome-try; 拼接检测; 稀疏子孔径; mathematical modeling; wavefront reconstruction; 干涉测量; sparse subaperture; 波面重构; stitching detection
• ISSN: 1003-501X
• DOI: 10.12086/oee.2018.170638

稀疏子孔径拼接检测是大口径、超大口径光学系统像质检测的主要方法之一，其拼接检测的精度与子孔径排列方式、数目以及大小密切相关。本文通过建立数学模型，推导出子孔径个数k在1到无穷区间取值，子孔径个数k与填充因子M的关系曲线，从而得出在1.5 m以下系统检测的最优的七个稀疏子孔径排列布局图，并通过Φ200 mm自准干涉检验，验证了这种排列布局的合理性。