APA (7th ed.) Citation

최용 & Choi, Y. (2004). 3가 크롬 박막 내의 극미세 결함 측정을 위한 중성자 소각 산란법의 적용. 한국표면공학회지, 37(3), 175-178.

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최용 and Yong Choi. "3가 크롬 박막 내의 극미세 결함 측정을 위한 중성자 소각 산란법의 적용." 한국표면공학회지 37, no. 3 (2004): 175-178.

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최용 and Yong Choi. "3가 크롬 박막 내의 극미세 결함 측정을 위한 중성자 소각 산란법의 적용." 한국표면공학회지, vol. 37, no. 3, 2004, pp. 175-178.