最近の透過電子顕微鏡の進歩

透過電子顕微鏡の分析機能はサブナノ領域の分析が可能なまでに性能が向上している.材料研究では形態観察だけでなく,何が局所領域で起こっているかが関心のもたれるところであり,最近,分析装置として使用されることが多い透過電子顕微鏡の観察例を中心にその進歩について述べる....

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Published in高分子 Vol. 46; no. 4; pp. 242 - 245
Main Author 本田, 敏和
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 高分子学会 01.04.1997
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ISSN0454-1138
2185-9825
DOI10.1295/kobunshi.46.242

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Summary:透過電子顕微鏡の分析機能はサブナノ領域の分析が可能なまでに性能が向上している.材料研究では形態観察だけでなく,何が局所領域で起こっているかが関心のもたれるところであり,最近,分析装置として使用されることが多い透過電子顕微鏡の観察例を中心にその進歩について述べる.
ISSN:0454-1138
2185-9825
DOI:10.1295/kobunshi.46.242