近藤, 行., & 福永, 啓. (2018). TEM/STEM-EDSによる検出限界. 顕微鏡, 53(3), 134-139. https://doi.org/10.11410/kenbikyo.53.3_134
Chicago Style (17th ed.) Citation近藤, 行人, and 啓一 福永. "TEM/STEM-EDSによる検出限界." 顕微鏡 53, no. 3 (2018): 134-139. https://doi.org/10.11410/kenbikyo.53.3_134.
MLA (9th ed.) Citation近藤, 行人, and 啓一 福永. "TEM/STEM-EDSによる検出限界." 顕微鏡, vol. 53, no. 3, 2018, pp. 134-139, https://doi.org/10.11410/kenbikyo.53.3_134.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.