中野, 裕. (2017). 透過型電子顕微鏡（TEM）によるセラミックス材料の微構造観察と解析. Funtai Kogakkaishi, 54(4), 224-230. https://doi.org/10.4164/sptj.54.224
Chicago Style (17th ed.) Citation中野, 裕美. "透過型電子顕微鏡（TEM）によるセラミックス材料の微構造観察と解析." Funtai Kogakkaishi 54, no. 4 (2017): 224-230. https://doi.org/10.4164/sptj.54.224.
MLA (9th ed.) Citation中野, 裕美. "透過型電子顕微鏡（TEM）によるセラミックス材料の微構造観察と解析." Funtai Kogakkaishi, vol. 54, no. 4, 2017, pp. 224-230, https://doi.org/10.4164/sptj.54.224.
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