二次ターゲットを用いた元素識別型のX線吸収イメージングの基礎検討

• Published in: Ｘ線分析の進歩 Vol. 54; pp. 89 - 99
• Main Authors: 中江, 理紀, 町田, 昌彦, 辻, 幸一, 吉田, 幸彦, 松山, 嗣史, 村上, 昌史
• Format: Journal Article
• Language: Japanese
• Published: 公益社団法人 日本分析化学会 X線分析研究懇談会 31.03.2023
• Subjects: X線イメージング; X線カメラ; X線吸収端; 二次ターゲット; 蛍光X線
• ISSN: 0911-7806; 2758-3651
• DOI: 10.57415/xshinpo.54.0_89

元素識別型のX線吸収イメージングについて研究を行った．X線のエネルギーを変えるために，二次ターゲットを用いた．最適な二次ターゲットを用いることで，X線吸収端の前後のエネルギーでX線吸収像を得た．X線吸収像は高感度なX線カメラを用いて数秒の短い露光時間で取得できた．Al，Cu，Niの金属箔からなる試料が分析された．Niの元素識別画像を得るために，NiのK吸収端の前後で2つのX線吸収像が必要である．そこで，CuとZnの板を二次ターゲットとして用いることでCu KαとZn KαのX線を得た．最終的に，2つのX線吸収像の差分をとることでNiの分布像が得られた．さらに，X線カメラで制御される閾値エネルギーを元素イメージングに利用した．二次ターゲットを交換することなく，真鍮板のような1種類の二次ターゲットだけを用いてNiの吸収像を得ることができることを示した．