ゴム延伸ホルダーの作製とゴムの入射角依存XANES測定

軟X線吸収分光法によるゴムの構造評価技術を開発するため，薄ゴム試料を延伸・保持する試料ホルダーを作製し，これを用いて3倍に延伸させたカーボンブラック含有ゴムの入射角依存XANESをC K端とO K端で測定した．C K端XANESから，延伸しないゴムではゴム分子の一部がゴム平面に対して垂直配向する成分が存在し，延伸することによりその垂直配向性が小さくなることがわかった．O K端XANESはカルボニル酸素の存在を示し，この配向性はC K端XANESの場合と同じ傾向を示した．...

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Published inＸ線分析の進歩 Vol. 54; pp. 81 - 87
Main Author 村松, 康司
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 日本分析化学会　X線分析研究懇談会 31.03.2023
Subjects
XANES
延伸ゴム
軟X線吸収分光
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ISSN0911-7806
2758-3651
DOI10.57415/xshinpo.54.0_81

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Summary:軟X線吸収分光法によるゴムの構造評価技術を開発するため，薄ゴム試料を延伸・保持する試料ホルダーを作製し，これを用いて3倍に延伸させたカーボンブラック含有ゴムの入射角依存XANESをC K端とO K端で測定した．C K端XANESから，延伸しないゴムではゴム分子の一部がゴム平面に対して垂直配向する成分が存在し，延伸することによりその垂直配向性が小さくなることがわかった．O K端XANESはカルボニル酸素の存在を示し，この配向性はC K端XANESの場合と同じ傾向を示した．
ISSN:0911-7806
2758-3651
DOI:10.57415/xshinpo.54.0_81