金属ナノ粒子の形成と性質―AgX写真からプラズモニクスへ
銀塩写真感光材料においてはAgとAgXのナノ粒子が種々の目的で用いられている．AgとAgXは結晶構造が同じ（面心立方晶系）であるので，同じ結晶構造を有する金属ナノ粒子の構造と調製方法には写真におけるAgとAgXナノ粒子の知見が参考になるものと考えられる．この観点から，長年写真科学と技術の分野で蓄積されてきた知見を収集し，プラズモニクス用金属ナノ粒子の構造と調製，光吸収，酸化還元反応に対する触媒，半導体上での光電変換効果および安定性に関して分析した．...
Saved in:
| Published in | 日本写真学会誌 Vol. 76; no. 6; pp. 453 - 462 |
|---|---|
| Main Author | |
| Format | Journal Article |
| Language | Japanese |
| Published |
社団法人 日本写真学会
2013
|
| Subjects | |
| Online Access | Get full text |
| ISSN | 0369-5662 1884-5932 |
| DOI | 10.11454/photogrst.76.453 |
Cover
| Abstract | 銀塩写真感光材料においてはAgとAgXのナノ粒子が種々の目的で用いられている．AgとAgXは結晶構造が同じ（面心立方晶系）であるので，同じ結晶構造を有する金属ナノ粒子の構造と調製方法には写真におけるAgとAgXナノ粒子の知見が参考になるものと考えられる．この観点から，長年写真科学と技術の分野で蓄積されてきた知見を収集し，プラズモニクス用金属ナノ粒子の構造と調製，光吸収，酸化還元反応に対する触媒，半導体上での光電変換効果および安定性に関して分析した． |
|---|---|
| AbstractList | 銀塩写真感光材料においてはAgとAgXのナノ粒子が種々の目的で用いられている．AgとAgXは結晶構造が同じ（面心立方晶系）であるので，同じ結晶構造を有する金属ナノ粒子の構造と調製方法には写真におけるAgとAgXナノ粒子の知見が参考になるものと考えられる．この観点から，長年写真科学と技術の分野で蓄積されてきた知見を収集し，プラズモニクス用金属ナノ粒子の構造と調製，光吸収，酸化還元反応に対する触媒，半導体上での光電変換効果および安定性に関して分析した． |
| Author | 谷, 忠昭 |
| Author_xml | – sequence: 1 fullname: 谷, 忠昭 organization: 日本写真学会フェロー |
| BookMark | eNo9UMlKw0AAHaSCtfYD_IjUSWZJ5liKGxS9KHgLM5NJ2lLbkuTirW3AFUQFEUEUenEBFfWigj_jkFb_wojL5a3wDm8S5FrtlgJg2oQl08QEz3Rq7bgdhFFcsmkJEzQG8qbjYIMwZOVAHiLKDEKpNQGKUVQX0ILYQQw6ebD0uXWYPpzrZFcn-6PHo_T2QPfu0rfBcDsTV8Pu5cfTzXv3uByspZuno7ML3dvT_R2dnOjkWvdfdTLQSZbc6_6L7j1PgXGfNyNV_OUCWJ2bXaksGNXl-cVKuWo0TAdxg_nY8yDxJFMCQcQwZJxDBj3bIr70_UwJwrhkwrckQaayOfcsxQRUQlJToAKo_Ow2opgHyu2E9XUebrg8jOuymfm_Q1ybuvQbslf-W1njodvg6AvUc3sY |
| ContentType | Journal Article |
| Copyright | 2013 社団法人 日本写真学会 |
| Copyright_xml | – notice: 2013 社団法人 日本写真学会 |
| DOI | 10.11454/photogrst.76.453 |
| DatabaseTitleList | |
| DeliveryMethod | fulltext_linktorsrc |
| Discipline | Visual Arts |
| EISSN | 1884-5932 |
| EndPage | 462 |
| ExternalDocumentID | article_photogrst_76_6_76_453_article_char_ja |
| GroupedDBID | ABDPE ABJNI ACGFS AFFNX ALMA_UNASSIGNED_HOLDINGS HH5 JSF OK1 RJT |
| ID | FETCH-LOGICAL-j183a-9f4dd05dc9eb3039409aa090d725fcff90db59ac9bf2c531e7aad2e9b0ebc61b3 |
| ISSN | 0369-5662 |
| IngestDate | Wed Sep 03 06:28:53 EDT 2025 |
| IsDoiOpenAccess | true |
| IsOpenAccess | true |
| IsPeerReviewed | false |
| IsScholarly | true |
| Issue | 6 |
| Language | Japanese |
| LinkModel | OpenURL |
| MergedId | FETCHMERGED-LOGICAL-j183a-9f4dd05dc9eb3039409aa090d725fcff90db59ac9bf2c531e7aad2e9b0ebc61b3 |
| OpenAccessLink | https://www.jstage.jst.go.jp/article/photogrst/76/6/76_453/_article/-char/ja |
| PageCount | 10 |
| ParticipantIDs | jstage_primary_article_photogrst_76_6_76_453_article_char_ja |
| PublicationCentury | 2000 |
| PublicationDate | 2013 |
| PublicationDateYYYYMMDD | 2013-01-01 |
| PublicationDate_xml | – year: 2013 text: 2013 |
| PublicationDecade | 2010 |
| PublicationTitle | 日本写真学会誌 |
| PublicationTitleAlternate | 日写誌 |
| PublicationYear | 2013 |
| Publisher | 社団法人 日本写真学会 |
| Publisher_xml | – name: 社団法人 日本写真学会 |
| References | 23) T. Oyamada, T. Shiozawa, S. Yamashita, J. Imaging Sci. Tech., 42, 483 (1998). 96) Y. Shen, A. R. Hosseini, M. H. Wong, G. G. Malliaras, ChemPhys Chem, 5, 16 (2004). 36) T. Tani, Photogr. Sci. Eng., 15, 181 (1971). 15) N. Toshima, M. Harada, T. Yonezawa, K. Kushihashi, K. Asakura, J. Phys. Chem., 95, 7448 (1991). 17) C. R. Berry, D. C. Skillman, J. Photogr. Sci., 16, 137 (1968). 80) A. Fujiki, T. Uemura, N. Zetta, M. Akai-Kasaya, A. Saito, Y. Kuwabara, Appl. Phys. Lett., 96, 043307 (2010). 6) M. Rycenga, C. M. Cobley, J. Zeng, W. Li, C. H. Moran, Q. Zhang, D. Qin, Y. Xia, Chem. Rev., 111, 3669 (2011). 9) Y. Niidome, K. Nishioka, H. Kawasaki, S. Yamada, Chem. Commun., 2376 (2003). 21) J. E. Maskasky, J. Imaging sci., 31, 15 (1987). 54) K. Ueno, H. Misawa, J. Photochem. Photobiol., A221, 130 (2011). 48) S. Urabe, M. Satou, J. Soc. Photogr. Sci. Tech. Jpn., 69, 340（2006）. 35) H. E. Spencer, L. E. Brady, J. F. Hamilton, J. Opt. Soc. Am., 57, 1020 (1967). 49) J. E. Maskasky, J. Imaging Sci., 33, 10 (1989); ibid., 33, 13 (1989). 42) A. Hirata, S. Honishi, Bull. Soc. Sci. Photogr. Jpn., 16, 1 (1966). 33) T. Terasaki, A. Sugawara, T. Shimizu, M. Miyake, J. Am. Chem. Soc., 124, 4210 (2002). 26) S. Bando, Y. Shibahara, S. Ishimaru, J. Imaging Sci., 29, 193 (1985). 3) G. A. Ozin, H. Huber, Inorg. Chem., 17, 155 (1978). 90) T. Tani, J. Imaging Sci. Tech., 41, 577 (1997). 10) V. Germain, J. Li, D. Ingert, Z. L. Wang, M. P. Pileni, J. Phys. Chem. B, 107, 8717 (2003). 91) E. T. Larson, PSA J (Photogr. Sci. Tech.), 17B, 19 (1951). 5) Y. Xia, Y. Xiong, B. Lim, S. E. Skrabalak, Angew. Chem., Int. Ed., 48, 60 (2009). 29) T. Sugimoto, K. Miyake, J. Colloid & Interface Sci., 140, 335 (1990). 55) Y. Takahashi, S. Yamada, in “Science in Nanoparticles of Metals and Semiconductors”, ed. by Chem. Soc. Jpn., Kagaku Dojin, Tokyo, 2012, pp. 60–66. 45) O. Knack, I. N. Stranski, Z. Electrochem., 60, 816 (1956). 2) T. P. Martin, T. Bergmann, H. Gloehlich, T. Lange, J. Phys. Chem., 95, 6421 (1991). 11) D. Aherne, D. M. Ledwith, M. Gara, J. M. Kelly, Adv. Funct. Mater., 18, 2005 (2008). 75) T. Toda, J. Hanna, T. Tani, J. Appl. Phys., 101, 024505 (2007). 99) H. Nakatsugawa, T. Tani, J. Imaging Sci. Technol., 47, 78 (2003). 27) S. Urabe, T. Ohzeki, J. Soc. Photogr. Sci. Tech., 69, 105 (2006). 28) Joe E. Maskasky, J. Imaging Sci., 32, 160 (1988). 43) J. S. Wey, R. W. Strong, Photogr. Sci. Eng., 21, 248 (1977). 32) M. Brust, C. J. Kiely, Colloids & Surf. A, 202, 175 (2002). 20) E. Klein, H. J. Metz, E. Moisar, Photogr. Korr., 99, 99 (1963); ibid., 100, 57 (1964). 22) R. Jagannathan, R. V. Mehta, J. A. Timmson, D. L. Black, Phys. Rev. B, 48, 13261 (1993). 76) H. Buecher, H. Kuhn, B. Mann, D. Mobius, L. von Szentpaly, P. Tillman, Photogr. Sci. Eng., 11, 233 (1967). 67) H. Wang, F. Tam, N. K. Grady, N. J. Halas, J. Phys. Chem. B 109, 18218 (2005). 58) E. Klein, H. J. Metz, Photogr. Sci. Eng., 5, 5 (1961). 57) T. Tani, M. Murofushi, J. Imaging Sci. Tech., 38, 1 (1994). 89) T. Tani, H. Iino, T. Uchida, J. Hanna, J. Soc. Photogr. Imaging Jpn., 76, 318 (2013). 12) S. Chen, Z. L. Wang, J. Ballato, S. H. Foulger, D. L. Carroll, J. Am. Chem. Soc., 125, 16186 (2003). 40) T. Tani, Y. Yoshida, J. Imaging Sci. Technol., 44, 242 (2000). 78) T. Okamoto, K. Kajikawa, “Plasmonics—Fundamentals and Applications”, Koudansha, Tokyo, 2010. 71) E. Becquerel, La Lumiere, Ses Causes et Ses Effects, Vol. 2, F. Didot Freres, Fils, et Cie., Paris, 1868. 59) L. R. Solman, J. Photogr. Sci. 18, 136 (1970). 66) Y. Tian, T. Tatsuma, Chem. Commun., 2004, 1810; Y. Tian, T. Tatsuma, J. Am. Chem. Soc., 127, 7632 (2005). 56) N. Kiyoto, S. Shirata, A. Kamata, J. Soc. Photogr. Imaging Jpn., 75, 158（2012） 53) U. Kreibig, M. Vollmer, “Optical Properties of Metal Clusters”, Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg, 1995. 16) M.-C. Daniel, D. Astruc, Chem. Rev., 104, 293 (2004). 19) J. E. Maskasky, J. Imaging Sci., 30, 247 (1986). 24) A. Millan, P. Bennema, A. Verbeeck, D. Bollen, J. Cryst. Growth, 192, 215 (1998). 62) M. Haruta, T. Kobayashi, H. Sano, N. Yamada, Chem. Lett., 405 (1987). 72) W. West, B. H. Carroll, J. Chem. Phys., 15, 529 (1947). 30) V. V. Lamer, R. Dinegar, J. Am. Chem. Soc., 72, 4847 (1950). 25) M. E. Irving, The proceedings of the 3rd east-West Intern. Symp. On AgX Imaging (1992, Kaanapali, Hawaii), IS&T, A6. 61) W. E. Lee, in “ Pioneers of Photography”, E. Ostroff, ed., SPSE, Springfield, VA, 1987, Chap. 8. 77) Th. Foerster, Ann. Phys. Ⅵ, 2, 55 (1948); Discuss. Faraday Soc., No. 27, 7 (1954). 74) S. M. Sze, “Physics of Semiconductor Devices”, John Wiley & Sons, New York, 1981. 1) W. D. Knight, K. Clemenger, W. A. de Heer, W. A. Saunders, M. Y. Chou, M. L. Cohen, Phys. Rev. Lett., 52, 2141 (1984). 13) Y. Sun, Y. Xia, Science, 298, 2176 (2002). 81) M. A. El-Sayed, J. Photochem. Photobiol. A: Chemistry, 221, 138 (2011). 86) L. H. Feldman, J. Appl. Photogr. Sci., 7, 1 (1981). 60) V. K. Walworth, S. H. Mervis, in “Imaging Processes and Materials”, J. M. Sturge, V. Walworth, A. Shepp, eds., Van Norstrand Reinhold, New York, 1989, Chap. 6. 50) W. D. Slafer, V. K. Walworth, A. B. Holland, J. J. Cowan, J. Imaging Sci., 31, 117 (1987). 85) T. Tani, “Preparation and Behavior of Silver Nanoparticles II: Stability”, Annual Meeting of Soc. Photogr. Imaging Jpn., May, 2013, Chiba Univ. 93) I. Konstantinov, A. Panov, J. Malinowski, J. Photogr. Sci., 21, 250 (1973); I. Konstantinov, J. Malinowski, ibid., 23, 1 (1975); ibid., 23, 45 (1975). 38) T. Tani, Y. Yoshida, J. Imaging Sci. Tech., 44, 242 (2000). 41) T. Tani, J. Appl. Phys., 91, 4595 (2002). 73) J. F. W. Herschel, Phil. Trans. Roy. Soc. (London), 131, 1 (1940). 68) W. deW. Abney, Photogr. J., 5 (N.S.), 95 (1981); J. P. Capstaff, E. R. Bullock, J. Franklin Inst., 19, 871 (1920). 52) C. R. Berry, Photogr. Sci. Eng., 13, 65 (1969). 83) C. R. Berry, J. Photogr. Sci., 18, 169 (1970). 47) R. Jagannathan, J. Imaging Sci., 35, 104 (1991 39) H. Mifune, M. Mizuno, Y. Toyama, T. Shiozawa, J. Okuda, J. Imaging Sci. Tech., 46, 262 (2002). 65) K. Ohzeki, J. Imaging Sci. Tech., 40, 591 (1996). 8) Y. Sun, B. Mayers, T. Herricks, Y. Xia, Nano Lett., 3, 955 (2003). 51) T. Heki, N. Inoue, Forma, 4, 55 (1989). 82) J. L. Elechiguerra, L. Larios-Lopez, C. Liu, D. Garcia-Gutierrez, A. Camacho-Bragado, M. J. Yacaman, Chem. Mater., 17, 6042 (2005). 63) J. F. Hamilton in T. H. James (ed.), “The Theory of the Photographic Process”, 4th ed., Macmillan, New York, 1977, p. 139. 84) Y. Toshima, H. Shirai, K. Ohzeki, J. Soc. Photogr. Imaging Jpn., submitted. 7) C. J. Johnson, E. Dujardin, S. A. Davis, C. J. Murphy, S. Mann, J. Mater. Chem., 12, 1765 (2002). 70) N. F. Mott, R. W. Gurney, “Electronic Processes in Ionic Crystals”, Oxford at the Clarendon Press, 1940, Chap. 7. 34) K. Ueno, S. Juodkazis, V. Mizeikis, K. Sasaki, H. Misawa, J. Am. Chem. Soc., 128, 14226 (2006); Adv. Mater., 20, 26 (2008). 87) K. Seki, H. Yanagi, Y. Kobayashi, T. Ohta, T. Tani, Phys. Rev. B, 49, 2760 (1994). 95) G. Greczynski, M. Fahlman, W. R. Salaneck, Chem. Phys. Letters, 321, 379 (2000). 4) T. Tani, “Photographic Science: Advances in Nanoparticles, J-Aggwas regates, Dye Sensitization, and Organic Devices”, Oxford University Press, Oxford, 2011. 88) D. E. Eastman, Phys. Rev. B, 2, 1 (1970). 98) J. Pouradier, J. Photogr. Sci., 28, 149 (1980). 64) R. Hailstone, N. B. Liebert, M. Levy, J. F. Hamilton, J. Imaging Sci., 31, 185 (1987). 31) G. Sandmann, H. Dietz, W. Pieth, J. Electroanal. Chem., 491, 78 (2000). 18) C. R. Berry, in T. H. James (ed.), “The Theory of the Photographic Process”, 4th edn., Macmillan, New York, 1977, Chapter 3. 37) J. F. Hamilton, R. C. Baetzold, Photogr. Sci. Eng., 25, 189 (1981). 79) H. A. Atwater, A. Polman, Nature Mater., 9, 205 (2010). 14) Y. Sun, B. Mayers, H. Herricks, Y. Xia, Nano. Lett., 3, 955 (2003). 44) Y. Hosoya, T. Tani, J. Photogr. Sci. Tech., 40, 202 (1996). 46) K. Ohzeki, H. Hosoya, J. Cryst. Growth, 305, 192 (2007). 92) R. Kubo, J. Phys. Soc. Jpn., 30, 41 (1962). 94) H. Ishii, K. Sugiyama, E. Ito, K. Seki, Adv. Mater., 11, 605 (1999). 97) T. Tani, J. Soc. Photogr. Sci. Technol. Jpn., 72, 88 (2009 69) H. Arens, J. Eggert, F. G. Kleinschrod, Z. wiss. Photogr., 42, 33 (1943). |
| References_xml | – reference: 81) M. A. El-Sayed, J. Photochem. Photobiol. A: Chemistry, 221, 138 (2011). – reference: 79) H. A. Atwater, A. Polman, Nature Mater., 9, 205 (2010). – reference: 69) H. Arens, J. Eggert, F. G. Kleinschrod, Z. wiss. Photogr., 42, 33 (1943). – reference: 23) T. Oyamada, T. Shiozawa, S. Yamashita, J. Imaging Sci. Tech., 42, 483 (1998). – reference: 22) R. Jagannathan, R. V. Mehta, J. A. Timmson, D. L. Black, Phys. Rev. B, 48, 13261 (1993). – reference: 33) T. Terasaki, A. Sugawara, T. Shimizu, M. Miyake, J. Am. Chem. Soc., 124, 4210 (2002). – reference: 40) T. Tani, Y. Yoshida, J. Imaging Sci. Technol., 44, 242 (2000). – reference: 56) N. Kiyoto, S. Shirata, A. Kamata, J. Soc. Photogr. Imaging Jpn., 75, 158（2012） – reference: 89) T. Tani, H. Iino, T. Uchida, J. Hanna, J. Soc. Photogr. Imaging Jpn., 76, 318 (2013). – reference: 9) Y. Niidome, K. Nishioka, H. Kawasaki, S. Yamada, Chem. Commun., 2376 (2003). – reference: 52) C. R. Berry, Photogr. Sci. Eng., 13, 65 (1969). – reference: 84) Y. Toshima, H. Shirai, K. Ohzeki, J. Soc. Photogr. Imaging Jpn., submitted. – reference: 66) Y. Tian, T. Tatsuma, Chem. Commun., 2004, 1810; Y. Tian, T. Tatsuma, J. Am. Chem. Soc., 127, 7632 (2005). – reference: 64) R. Hailstone, N. B. Liebert, M. Levy, J. F. Hamilton, J. Imaging Sci., 31, 185 (1987). – reference: 94) H. Ishii, K. Sugiyama, E. Ito, K. Seki, Adv. Mater., 11, 605 (1999). – reference: 65) K. Ohzeki, J. Imaging Sci. Tech., 40, 591 (1996). – reference: 39) H. Mifune, M. Mizuno, Y. Toyama, T. Shiozawa, J. Okuda, J. Imaging Sci. Tech., 46, 262 (2002). – reference: 37) J. F. Hamilton, R. C. Baetzold, Photogr. Sci. Eng., 25, 189 (1981). – reference: 70) N. F. Mott, R. W. Gurney, “Electronic Processes in Ionic Crystals”, Oxford at the Clarendon Press, 1940, Chap. 7. – reference: 12) S. Chen, Z. L. Wang, J. Ballato, S. H. Foulger, D. L. Carroll, J. Am. Chem. Soc., 125, 16186 (2003). – reference: 90) T. Tani, J. Imaging Sci. Tech., 41, 577 (1997). – reference: 50) W. D. Slafer, V. K. Walworth, A. B. Holland, J. J. Cowan, J. Imaging Sci., 31, 117 (1987). – reference: 99) H. Nakatsugawa, T. Tani, J. Imaging Sci. Technol., 47, 78 (2003). – reference: 75) T. Toda, J. Hanna, T. Tani, J. Appl. Phys., 101, 024505 (2007). – reference: 20) E. Klein, H. J. Metz, E. Moisar, Photogr. Korr., 99, 99 (1963); ibid., 100, 57 (1964). – reference: 29) T. Sugimoto, K. Miyake, J. Colloid & Interface Sci., 140, 335 (1990). – reference: 91) E. T. Larson, PSA J (Photogr. Sci. Tech.), 17B, 19 (1951). – reference: 43) J. S. Wey, R. W. Strong, Photogr. Sci. Eng., 21, 248 (1977). – reference: 63) J. F. Hamilton in T. H. James (ed.), “The Theory of the Photographic Process”, 4th ed., Macmillan, New York, 1977, p. 139. – reference: 93) I. Konstantinov, A. Panov, J. Malinowski, J. Photogr. Sci., 21, 250 (1973); I. Konstantinov, J. Malinowski, ibid., 23, 1 (1975); ibid., 23, 45 (1975). – reference: 18) C. R. Berry, in T. H. James (ed.), “The Theory of the Photographic Process”, 4th edn., Macmillan, New York, 1977, Chapter 3. – reference: 1) W. D. Knight, K. Clemenger, W. A. de Heer, W. A. Saunders, M. Y. Chou, M. L. Cohen, Phys. Rev. Lett., 52, 2141 (1984). – reference: 31) G. Sandmann, H. Dietz, W. Pieth, J. Electroanal. Chem., 491, 78 (2000). – reference: 96) Y. Shen, A. R. Hosseini, M. H. Wong, G. G. Malliaras, ChemPhys Chem, 5, 16 (2004). – reference: 71) E. Becquerel, La Lumiere, Ses Causes et Ses Effects, Vol. 2, F. Didot Freres, Fils, et Cie., Paris, 1868. – reference: 97) T. Tani, J. Soc. Photogr. Sci. Technol. Jpn., 72, 88 (2009) – reference: 45) O. Knack, I. N. Stranski, Z. Electrochem., 60, 816 (1956). – reference: 76) H. Buecher, H. Kuhn, B. Mann, D. Mobius, L. von Szentpaly, P. Tillman, Photogr. Sci. Eng., 11, 233 (1967). – reference: 95) G. Greczynski, M. Fahlman, W. R. Salaneck, Chem. Phys. Letters, 321, 379 (2000). – reference: 72) W. West, B. H. Carroll, J. Chem. Phys., 15, 529 (1947). – reference: 24) A. Millan, P. Bennema, A. Verbeeck, D. Bollen, J. Cryst. Growth, 192, 215 (1998). – reference: 61) W. E. Lee, in “ Pioneers of Photography”, E. Ostroff, ed., SPSE, Springfield, VA, 1987, Chap. 8. – reference: 11) D. Aherne, D. M. Ledwith, M. Gara, J. M. Kelly, Adv. Funct. Mater., 18, 2005 (2008). – reference: 74) S. M. Sze, “Physics of Semiconductor Devices”, John Wiley & Sons, New York, 1981. – reference: 92) R. Kubo, J. Phys. Soc. Jpn., 30, 41 (1962). – reference: 4) T. Tani, “Photographic Science: Advances in Nanoparticles, J-Aggwas regates, Dye Sensitization, and Organic Devices”, Oxford University Press, Oxford, 2011. – reference: 27) S. Urabe, T. Ohzeki, J. Soc. Photogr. Sci. Tech., 69, 105 (2006). – reference: 21) J. E. Maskasky, J. Imaging sci., 31, 15 (1987). – reference: 10) V. Germain, J. Li, D. Ingert, Z. L. Wang, M. P. Pileni, J. Phys. Chem. B, 107, 8717 (2003). – reference: 25) M. E. Irving, The proceedings of the 3rd east-West Intern. Symp. On AgX Imaging (1992, Kaanapali, Hawaii), IS&T, A6. – reference: 58) E. Klein, H. J. Metz, Photogr. Sci. Eng., 5, 5 (1961). – reference: 83) C. R. Berry, J. Photogr. Sci., 18, 169 (1970). – reference: 82) J. L. Elechiguerra, L. Larios-Lopez, C. Liu, D. Garcia-Gutierrez, A. Camacho-Bragado, M. J. Yacaman, Chem. Mater., 17, 6042 (2005). – reference: 35) H. E. Spencer, L. E. Brady, J. F. Hamilton, J. Opt. Soc. Am., 57, 1020 (1967). – reference: 26) S. Bando, Y. Shibahara, S. Ishimaru, J. Imaging Sci., 29, 193 (1985). – reference: 3) G. A. Ozin, H. Huber, Inorg. Chem., 17, 155 (1978). – reference: 73) J. F. W. Herschel, Phil. Trans. Roy. Soc. (London), 131, 1 (1940). – reference: 32) M. Brust, C. J. Kiely, Colloids & Surf. A, 202, 175 (2002). – reference: 98) J. Pouradier, J. Photogr. Sci., 28, 149 (1980). – reference: 15) N. Toshima, M. Harada, T. Yonezawa, K. Kushihashi, K. Asakura, J. Phys. Chem., 95, 7448 (1991). – reference: 34) K. Ueno, S. Juodkazis, V. Mizeikis, K. Sasaki, H. Misawa, J. Am. Chem. Soc., 128, 14226 (2006); Adv. Mater., 20, 26 (2008). – reference: 6) M. Rycenga, C. M. Cobley, J. Zeng, W. Li, C. H. Moran, Q. Zhang, D. Qin, Y. Xia, Chem. Rev., 111, 3669 (2011). – reference: 42) A. Hirata, S. Honishi, Bull. Soc. Sci. Photogr. Jpn., 16, 1 (1966). – reference: 57) T. Tani, M. Murofushi, J. Imaging Sci. Tech., 38, 1 (1994). – reference: 19) J. E. Maskasky, J. Imaging Sci., 30, 247 (1986). – reference: 47) R. Jagannathan, J. Imaging Sci., 35, 104 (1991) – reference: 87) K. Seki, H. Yanagi, Y. Kobayashi, T. Ohta, T. Tani, Phys. Rev. B, 49, 2760 (1994). – reference: 77) Th. Foerster, Ann. Phys. Ⅵ, 2, 55 (1948); Discuss. Faraday Soc., No. 27, 7 (1954). – reference: 5) Y. Xia, Y. Xiong, B. Lim, S. E. Skrabalak, Angew. Chem., Int. Ed., 48, 60 (2009). – reference: 28) Joe E. Maskasky, J. Imaging Sci., 32, 160 (1988). – reference: 38) T. Tani, Y. Yoshida, J. Imaging Sci. Tech., 44, 242 (2000). – reference: 49) J. E. Maskasky, J. Imaging Sci., 33, 10 (1989); ibid., 33, 13 (1989). – reference: 30) V. V. Lamer, R. Dinegar, J. Am. Chem. Soc., 72, 4847 (1950). – reference: 55) Y. Takahashi, S. Yamada, in “Science in Nanoparticles of Metals and Semiconductors”, ed. by Chem. Soc. Jpn., Kagaku Dojin, Tokyo, 2012, pp. 60–66. – reference: 78) T. Okamoto, K. Kajikawa, “Plasmonics—Fundamentals and Applications”, Koudansha, Tokyo, 2010. – reference: 53) U. Kreibig, M. Vollmer, “Optical Properties of Metal Clusters”, Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg, 1995. – reference: 54) K. Ueno, H. Misawa, J. Photochem. Photobiol., A221, 130 (2011). – reference: 16) M.-C. Daniel, D. Astruc, Chem. Rev., 104, 293 (2004). – reference: 48) S. Urabe, M. Satou, J. Soc. Photogr. Sci. Tech. Jpn., 69, 340（2006）. – reference: 85) T. Tani, “Preparation and Behavior of Silver Nanoparticles II: Stability”, Annual Meeting of Soc. Photogr. Imaging Jpn., May, 2013, Chiba Univ. – reference: 17) C. R. Berry, D. C. Skillman, J. Photogr. Sci., 16, 137 (1968). – reference: 2) T. P. Martin, T. Bergmann, H. Gloehlich, T. Lange, J. Phys. Chem., 95, 6421 (1991). – reference: 44) Y. Hosoya, T. Tani, J. Photogr. Sci. Tech., 40, 202 (1996). – reference: 41) T. Tani, J. Appl. Phys., 91, 4595 (2002). – reference: 36) T. Tani, Photogr. Sci. Eng., 15, 181 (1971). – reference: 51) T. Heki, N. Inoue, Forma, 4, 55 (1989). – reference: 8) Y. Sun, B. Mayers, T. Herricks, Y. Xia, Nano Lett., 3, 955 (2003). – reference: 59) L. R. Solman, J. Photogr. Sci. 18, 136 (1970). – reference: 86) L. H. Feldman, J. Appl. Photogr. Sci., 7, 1 (1981). – reference: 60) V. K. Walworth, S. H. Mervis, in “Imaging Processes and Materials”, J. M. Sturge, V. Walworth, A. Shepp, eds., Van Norstrand Reinhold, New York, 1989, Chap. 6. – reference: 80) A. Fujiki, T. Uemura, N. Zetta, M. Akai-Kasaya, A. Saito, Y. Kuwabara, Appl. Phys. Lett., 96, 043307 (2010). – reference: 13) Y. Sun, Y. Xia, Science, 298, 2176 (2002). – reference: 62) M. Haruta, T. Kobayashi, H. Sano, N. Yamada, Chem. Lett., 405 (1987). – reference: 67) H. Wang, F. Tam, N. K. Grady, N. J. Halas, J. Phys. Chem. B 109, 18218 (2005). – reference: 7) C. J. Johnson, E. Dujardin, S. A. Davis, C. J. Murphy, S. Mann, J. Mater. Chem., 12, 1765 (2002). – reference: 46) K. Ohzeki, H. Hosoya, J. Cryst. Growth, 305, 192 (2007). – reference: 68) W. deW. Abney, Photogr. J., 5 (N.S.), 95 (1981); J. P. Capstaff, E. R. Bullock, J. Franklin Inst., 19, 871 (1920). – reference: 88) D. E. Eastman, Phys. Rev. B, 2, 1 (1970). – reference: 14) Y. Sun, B. Mayers, H. Herricks, Y. Xia, Nano. Lett., 3, 955 (2003). |
| SSID | ssib020483908 ssj0000491483 ssib001234146 |
| Score | 1.9272741 |
| Snippet | 銀塩写真感光材料においてはAgとAgXのナノ粒子が種々の目的で用いられている．AgとAgXは結晶構造が同じ（面心立方晶系）であるので，同じ結晶構造を有する金属ナノ粒子の構... |
| SourceID | jstage |
| SourceType | Publisher |
| StartPage | 453 |
| SubjectTerms | 金属ナノ粒子のプラズモン共鳴 金属ナノ粒子の光電変換効果 金属ナノ粒子の安定性 金属ナノ粒子の構造と調製 銀塩写真感光材料 |
| Title | 金属ナノ粒子の形成と性質―AgX写真からプラズモニクスへ |
| URI | https://www.jstage.jst.go.jp/article/photogrst/76/6/76_453/_article/-char/ja |
| Volume | 76 |
| hasFullText | 1 |
| inHoldings | 1 |
| isFullTextHit | |
| isPrint | |
| ispartofPNX | 日本写真学会誌, 2013, Vol.76(6), pp.453-462 |
| journalDatabaseRights | – providerCode: PRVFSB databaseName: Free Full-Text Journals in Chemistry customDbUrl: eissn: 1884-5932 dateEnd: 20141231 omitProxy: true ssIdentifier: ssj0000491483 issn: 0369-5662 databaseCode: HH5 dateStart: 19640101 isFulltext: true titleUrlDefault: http://abc-chemistry.org/ providerName: ABC ChemistRy – providerCode: PRVAFT databaseName: Open Access Digital Library customDbUrl: eissn: 1884-5932 dateEnd: 99991231 omitProxy: true ssIdentifier: ssib020483908 issn: 0369-5662 databaseCode: KQ8 dateStart: 19640101 isFulltext: true titleUrlDefault: http://grweb.coalliance.org/oadl/oadl.html providerName: Colorado Alliance of Research Libraries |
| link | http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwpR1Na9VAMNR60YP4id_04J4kNS_JJjvgZfOaR_FQEFrpLW6-qu_Qin29eGr7wE8QFUQEUejFD1BRLyr4Zwyv1X_h7EeeqfZgK4RlmN2Znd3ZZGY2-2FZZ_BdzqkjAlu4ZW7jB4_ZLPM826eQ-04uSirUaZ9TweSMf2GWzo7sutxYtbTUS8ezG1vuK9mJVhGHepW7ZLeh2SFTRCCM-sUUNYzpP-mYxEAwmIcWiSmJWgRiEnuE4cNrADEhiVwCrizDJwg4KqtFeKyoJgjHrIAw1shiCuMQHpKYkcgjnNerIiifm5WELCAAkjm0CXQMIYsUgCXBCAChATiYrKiWTdarhaypeKcuA4ZhxJres5QKGXKqgDbh7a0kUc3kAYl9EiGGyyag_Gw4H6za5JAolONLdUKHcEfxxJITzYkQvYNVDVpZA0eWqtsgItyTFNg3QFVVHJ-zO5Ow8TX2ArDR99Wmo9DWgjHfpuBtMif6Ohvz2jRtg69PRTZuhq85_W3BfOrLe5evLPQW5jAAGA-D8SHlpoPBzbBLhkWTMEgCmWD5pM6Vm_eSLkYQu90QfTG5bOFi4z-pi17M7wkBeYqzB-a0p66OHzFe1neMm_abpQFSznN_SoluXBeDmnpBpPLRpvdb-0xwNca1UAeska44aO29dHVxSWMXD1lTP289HHx4XvXvVv37Gx8fDd4-qFbeDb6trd9G4NX68ssfn958X36Mo3xw8-nGsxfVyr1q9U7Vf1L1X1erX6v-WtVHzPtq9Uu18vmwNdOJp9uTtrlTxO6i8RI2lH6eOzTPoEjRewPfASEccPLQpWVWlgilFEQGaelmaJ-KUIjcLSB1ijQLWql3xBqdX5gvjlpjaYahk6CuKJEpBBi75MAwInFTB2lDesw6rzsjuaYPjkm2pbHj_0d-wtrjqptb5GzhSWu0d32pOIX-cy89rYbAL1tFrF0 |
| linkProvider | Colorado Alliance of Research Libraries |
| openUrl | ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info%3Aofi%2Fenc%3AUTF-8&rfr_id=info%3Asid%2Fsummon.serialssolutions.com&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Ajournal&rft.genre=article&rft.atitle=%E9%87%91%E5%B1%9E%E3%83%8A%E3%83%8E%E7%B2%92%E5%AD%90%E3%81%AE%E5%BD%A2%E6%88%90%E3%81%A8%E6%80%A7%E8%B3%AA%E2%80%95AgX%E5%86%99%E7%9C%9F%E3%81%8B%E3%82%89%E3%83%97%E3%83%A9%E3%82%BA%E3%83%A2%E3%83%8B%E3%82%AF%E3%82%B9%E3%81%B8&rft.jtitle=%E6%97%A5%E6%9C%AC%E5%86%99%E7%9C%9F%E5%AD%A6%E4%BC%9A%E8%AA%8C&rft.au=%E8%B0%B7%2C+%E5%BF%A0%E6%98%AD&rft.date=2013&rft.pub=%E7%A4%BE%E5%9B%A3%E6%B3%95%E4%BA%BA+%E6%97%A5%E6%9C%AC%E5%86%99%E7%9C%9F%E5%AD%A6%E4%BC%9A&rft.issn=0369-5662&rft.eissn=1884-5932&rft.volume=76&rft.issue=6&rft.spage=453&rft.epage=462&rft_id=info:doi/10.11454%2Fphotogrst.76.453&rft.externalDocID=article_photogrst_76_6_76_453_article_char_ja |
| thumbnail_l | http://covers-cdn.summon.serialssolutions.com/index.aspx?isbn=/lc.gif&issn=0369-5662&client=summon |
| thumbnail_m | http://covers-cdn.summon.serialssolutions.com/index.aspx?isbn=/mc.gif&issn=0369-5662&client=summon |
| thumbnail_s | http://covers-cdn.summon.serialssolutions.com/index.aspx?isbn=/sc.gif&issn=0369-5662&client=summon |