電子収量分光（PYS）スペクトルからの自動閾値推定 －残差分析による自動分析範囲の推定

光電子収量分光（PYS）スペクトルから求められるイオン化ポテンシャルの導出について，数理的な自動推定アルゴリズムを開発した．このアルゴリズムは，スペクトルデータと解析関数による最小化で得られる残差を，平均絶対誤差及び平均平方根二乗誤差にて計算し，その比から解析関数が適用できる範囲（分析範囲）を推定する．これまで自動解析の検証に利用した87個の検証データを用い，このアルゴリズムによる推定を行った．これまでの回帰（最小二乗法）では50%未満の正答率だったの対し，79％まで正答率が向上した．...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published inJournal of Surface Analysis Vol. 27; no. 1; pp. 15 - 21
Main Authors 柳生, 進二郎, 吉武, 道子
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 一般社団法人　表面分析研究会 2020
Online AccessGet full text
ISSN1341-1756
1347-8400
DOI10.1384/jsa.27.15

Cover

More Information
Summary:光電子収量分光（PYS）スペクトルから求められるイオン化ポテンシャルの導出について，数理的な自動推定アルゴリズムを開発した．このアルゴリズムは，スペクトルデータと解析関数による最小化で得られる残差を，平均絶対誤差及び平均平方根二乗誤差にて計算し，その比から解析関数が適用できる範囲（分析範囲）を推定する．これまで自動解析の検証に利用した87個の検証データを用い，このアルゴリズムによる推定を行った．これまでの回帰（最小二乗法）では50%未満の正答率だったの対し，79％まで正答率が向上した．
ISSN:1341-1756
1347-8400
DOI:10.1384/jsa.27.15