介质层对超材料太赫兹响应特性的控制规律

作为超材料的重要组成部分,介质层是影响超材料响应特性的关键因素.固定超材料的尺寸和表层金属图形,通过理论推导和仿真模拟详细分析了在太赫兹波段下介质层的介电常数和厚度两个参数对超材料响应特性的控制规律,并首次确定了响应频率与介电常数的关系方程.结果表明,在其他参数不变的情况下,超材料的响应频率主要取决于介质层的介电常数的实部大小,而其吸收率则主要取决于介质层的厚度.据此,提出一种设计超材料的新方法:首先将设计要求的响应频率代入频率方程计算出相应介质层的介电常数,由此挑选合适的介质材料;然后固定介电常数、调节介质层厚度,获得在特定频率具有特定吸收率的超材料....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in红外与毫米波学报 Vol. 34; no. 3; pp. 333 - 339
Main Author 敖天宏 许向东 黄锐 蒋亚东 姚洁 何琼 孙自强 温粤江 马春前
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 电子科技大学光电信息学院,电子薄膜与集成器件国家重点实验室,光电探测与传感集成教育部重点实验室,四川成都610054 2015
Subjects
太赫兹;介质材料;超材料;频率方程;控制规律
频率方程
控制规律
terahertz
介质材料
control rules
太赫兹
metamaterials
frequency formula
dielectric materials
超材料
Online AccessGet full text
ISSN1001-9014
DOI10.3724/SP.J.1010.2015.03.013

Cover

More Information
Summary:作为超材料的重要组成部分,介质层是影响超材料响应特性的关键因素.固定超材料的尺寸和表层金属图形,通过理论推导和仿真模拟详细分析了在太赫兹波段下介质层的介电常数和厚度两个参数对超材料响应特性的控制规律,并首次确定了响应频率与介电常数的关系方程.结果表明,在其他参数不变的情况下,超材料的响应频率主要取决于介质层的介电常数的实部大小,而其吸收率则主要取决于介质层的厚度.据此,提出一种设计超材料的新方法:首先将设计要求的响应频率代入频率方程计算出相应介质层的介电常数,由此挑选合适的介质材料;然后固定介电常数、调节介质层厚度,获得在特定频率具有特定吸收率的超材料.
Bibliography:31-1577/TN
AO Tian-Hong;XU Xiang-Dong;HUANG Rui;JIANG Ya-Dong;YAO Jie;HE Qiong;SUN Zi-Qiang;WEN Yue-Jiang;MA Chun-Qian;School of Optoelectronic Information,University of Electronic Science and Technology of China( UESTC) ,State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices,Ministry of Education Key Laboratory of Photoelectric Detection & Sensor Integration Technology
ISSN:1001-9014
DOI:10.3724/SP.J.1010.2015.03.013