175Hf的半衰期测量

（175）Hf现有的半衰期数据偏少且分歧较大,对核参数的准确使用不利。本实验通过加速器质子束流轰击（175）Lu,并使用HDEHP萃淋树脂进行离子交换,得到无载体无（181）Hf干扰的高纯度（175）Hf液体测量源,对其中的杂质（65）Zn与（56）Co的去污因子分别为5.2×103与2.3×103;引入一固定位置的监督源（137）Cs与（175）Hf进行了40d的连续测量,对343keV以及661keVγ射线计数率的比值关于测量时间进行线性拟合,得到（175）Hf的半衰期为（70.73±0.25）d,并对测量结果进行了相关检验。...

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Bibliographic Details
Published in核化学与放射化学 Vol. 39; no. 3; pp. 218 - 222
Main Author 张雄寓 丁有钱 王秀凤 张生栋 马鹏 刘峙嵘
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国原子能科学研究院放射化学研究所,北京 102413%中国原子能科学研究院放射化学研究所,北京,102413%东华理工大学省部共建核资源与环境国家重点实验室培育基地,江西南昌 330013 2017
东华理工大学核科学与工程学院,江西南昌 330013
东华理工大学省部共建核资源与环境国家重点实验室培育基地,江西南昌 330013
Subjects
175Hf
半衰期
无载体
半衰期
175Hf
non-carrier
half-life
无载体
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ISSN0253-9950
DOI10.7538/hhx.2017.39.03.0218

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Summary:（175）Hf现有的半衰期数据偏少且分歧较大,对核参数的准确使用不利。本实验通过加速器质子束流轰击（175）Lu,并使用HDEHP萃淋树脂进行离子交换,得到无载体无（181）Hf干扰的高纯度（175）Hf液体测量源,对其中的杂质（65）Zn与（56）Co的去污因子分别为5.2×103与2.3×103;引入一固定位置的监督源（137）Cs与（175）Hf进行了40d的连续测量,对343keV以及661keVγ射线计数率的比值关于测量时间进行线性拟合,得到（175）Hf的半衰期为（70.73±0.25）d,并对测量结果进行了相关检验。
Bibliography:The existing data of 17s Hf half-life are few and have large differences, which is unfavorable to use nuclear parameters accurately. In this experiment, 175Lu was bombarded by accelerator proton beam and purified by HDEHP extraction leaching resin. Then high pu- rity 17s Hf was obtained, which is free carrier and no interference of 181 Hf. Decontamination factors for 65Zn and 56Co respectively are 5.2 ）4 10a and 2.3 ×10^3. 137Cs, as a supervision source, was measured lasting 40 days with 175Hf. The half-life value of 175Hf is （70.73 ± 0.25） d obtained by fitting the relation between the ratio of 343 keV and 661 keV 7-ray counting rate and time.
11-2045/TL
175Hf; half-life; non-carrier
ZHANG Xiong-yu1,2,3 , DING You-qian3 , WANG Xiu-feng3 , ZHANG Sheng-dong3 , MA Peng3 , LIU Zhi-rong1,2（ 1. State Key Laboratory Breeding Base of Nuclear Resources and Environment, East China University of Technology, Nanchang 330013, China; 2. Academy of Nuclear Science and Engineering, East China University of Technology, Nanchang
ISSN:0253-9950
DOI:10.7538/hhx.2017.39.03.0218