脑死亡过程中谷氨酸与场电位的同步检测微电极阵列研究
高浓度胞外K+会引起神经元的去极化、谷氨酸释放、甚至细胞死亡。为研究高浓度K+对在体神经元的影响,采用微机电系统( MEMS)方法制作了一种植入式微电极阵列( MEA),其上包含形状、位置固定的电化学(50伊150μm)和电生理(直径为15μm)检测位点,可同时进行脑内神经递质谷氨酸、局部场电位信号( LFP)双模检测。将这种MEA植入到大鼠纹状体后,给大鼠皮层施加高浓度K+刺激,结果表明,高钾刺激增加了纹状体内谷氨酸浓度,同时抑制了神经电生理活动。这是首次采用双模MEA研究神经元在体死亡过程,结果验证了双模微电极阵列在体检测的可行性,可用于研究脑内神经电化学、电生理的时空关系。...
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| Published in | 分析化学 Vol. 43; no. 7; pp. 983 - 988 |
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| Main Author | |
| Format | Journal Article |
| Language | Chinese |
| Published |
中国科学院电子学研究所 传感技术联合国家重点实验室,北京100190
2015
中国科学院大学,北京100190%中国科学院电子学研究所 传感技术联合国家重点实验室,北京,100190 |
| Subjects | |
| Online Access | Get full text |
| ISSN | 0253-3820 |
| DOI | 10.11895/j.issn.0253-3820.150039 |
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| Summary: | 高浓度胞外K+会引起神经元的去极化、谷氨酸释放、甚至细胞死亡。为研究高浓度K+对在体神经元的影响,采用微机电系统( MEMS)方法制作了一种植入式微电极阵列( MEA),其上包含形状、位置固定的电化学(50伊150μm)和电生理(直径为15μm)检测位点,可同时进行脑内神经递质谷氨酸、局部场电位信号( LFP)双模检测。将这种MEA植入到大鼠纹状体后,给大鼠皮层施加高浓度K+刺激,结果表明,高钾刺激增加了纹状体内谷氨酸浓度,同时抑制了神经电生理活动。这是首次采用双模MEA研究神经元在体死亡过程,结果验证了双模微电极阵列在体检测的可行性,可用于研究脑内神经电化学、电生理的时空关系。 |
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| Bibliography: | Implantable microelectrode array;Micro-electro-mechanical-systems;Brain death;High potassium;Glutamate;Local field potential WEI Wen-Jing, SONG YI-Lin, FAN Xin-Yi, ZHANG Song, WANG Li, XU Sheng-Wei, CAI Xin-Xia (State Key Laboratory of Transducer Technology, Institute of Electronics Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China) 2( University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China) 22-1125/O6 High extracellular potassium can induce spreading depression-like depolarizations, elevations of extracellular glutamate and even neuronal death in normal brain. To investigate the contribution of high potassium in vivo, a microelectrode arrays ( MEAs ) probe integrated with recording sites for glutamate concentration (50x150 μm) and local field potential ( LFP) ( diameter=15 μm) was fabricated by Micro-electro-mechanical-systems ( MEMS) technologies. We implanted the MEA probe acutely in the rat brain and exposed the brain to a high potassium solution. During these multi-modal recordings, it was observe |
| ISSN: | 0253-3820 |
| DOI: | 10.11895/j.issn.0253-3820.150039 |