As diferentes metrias dos estudos métricos da informação evolução epistemológica, inter-relações e representações

• Published in: Encontros Bibli Vol. 25; pp. 1 - 21
• Main Authors: Curty, Renata Gonçalves, Delbianco, Natalia Rodrigues
• Format: Journal Article
• Language: English; Portuguese
• Published: 20.10.2020
• ISSN: 1518-2924; 1518-2924
• DOI: 10.5007/1518-2924.2020.e74593

Objetivo: Levantar, analisar e ao mesmo tempo oferecer um esclarecimento conceitual e histórico acerca dos Estudos Métricos da Informação e seus subcampos considerando seus objetos e propósitos de interesse, bem como discutir as inter-relações das abordagens métricas a partir de diferentes modelos identificados na literatura.Método: Caracteriza-se como um estudo de revisão narrativa que adota a técnica de metanálise para a discussão das definições e das representações que que tratam das abordagens métricas no contexto da Ciência da Informação.Resultados: A partir da identificação das oito abordagens métricas mais frequentes e melhor consolidadas na literatura científica (Altmetria, Arquivometria, Bibliometria, Cibermetria, Cientometria, Informetria, Patentometria e Webometria) apresenta a genealogia dessas metrias e os autores precursores responsáveis pelos conceitos seminais, bem como a sua evolução ao longo dos anos, propondo conceitos que refletem suas evoluções e frentes aplicação. Propõe uma forma de representação inovadora dimensional, a qual busca superar as divergências limitações dos modelos identificados na literatura corrente, e que considera as metrias como subcampos independentes, mas que podem ser classificados em três eixos (locus, focus e fluxus) dependendo do contexto de seus objetos e propósitos de interesse, como são produzidas e por onde circulam.Conclusões: Oferece um melhor esclarecimento conceitual e acerca da evolução epistemológica das principais abordagens métricas que poderá fomentar futuras pesquisas e atividades de ensino ligadas à temática de modo a permitir uma melhor distinção entre os diferentes subcampos métricos.