Analýza silikátových materiálů pomocí XRF

• Main Author: Pospíšil, Josef (Dissertant)
• Other Authors: Bednařík, Vratislav (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2007
• Subjects: rentgenové fluorescenční spektrometrie; analýza silikátů; ElvaX; kalibrace; směsné standardy; X-ray fluorescence spectrometry; silicate analysis; calibration; mixed standards; diplomová práce
• Physical Description: 69 s.