Staff View: Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>

Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Martínek, Tomáš (Dissertant)
Other Authors:	Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format:	Manuscript
Language:	Czech
Published:	2013
Subjects:	Mikroskopie atomárních sil skenovací mikrovlnná mikroskopie metrologie vizualizace Atomic Force Microscopy Scanning Microwave Microscopy Metrology Visualization diplomová práce
Physical Description:	57 s.


LEADER	01404ntm a22003377u 4500
001	zp31285
041			\|a cze
100	1		\|a Martínek, Tomáš \|4 dis
245	1	0	\|a Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie<br>
246			\|a The Projection of Electronic Systems' Structures Using Scanning Microwave Microscopy<br>
260			\|c 2013
300			\|a 57 s.
500			\|a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
500			\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
500			\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
506			\|a Bez omezení
653			\|a Mikroskopie atomárních sil
653			\|a skenovací mikrovlnná mikroskopie
653			\|a metrologie
653			\|a vizualizace
653			\|a Atomic Force Microscopy
653			\|a Scanning Microwave Microscopy
653			\|a Metrology
653			\|a Visualization
655		4	\|a diplomová práce
700	1		\|a Navrátil, Milan \|4 ths
710	2		\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky \|4 dgg
710	2		\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics \|4 dgg
856	4	0	\|u http://hdl.handle.net/10563/25429 \|y Plný text v Digitální knihovně UTB