Zobrazování biologických struktur užitím mikroskopie atomárních sil

• Main Author: Vaculka, Tomáš (Dissertant)
• Other Authors: Navrátil, Milan (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2012
• Subjects: AFM; mikroskopie atomárních sil; mikroskopie skenující sondou; biologické materiály; nosník; hrot; kontaktní režim; bezkontaktní režim; poklepový režim; artefakty; atomic force microscopy; scanning probe microscopy; biological samples; cantilever; tip; contact mode; non-contact mode; semi-contact mode; artifacts; diplomová práce
• Physical Description: 95 s.