Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Čechmánek, Michal (Dissertant)
Other Authors: Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format: Manuscript
Language: Czech
Published: 2009
Subjects:
Physical Description: 71 s.

Cover

LEADER 01436ntm a22003137u 4500
001 zp11576
041 |a cze 
100 1 |a Čechmánek, Michal  |4 dis 
245 1 0 |a Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu 
246 |a Surface structure detection via scanning mechanism and measurement of contact potential, their application in security industry 
260 |c 2009 
300 |a 71 s. 
500 |a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management 
500 |a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management 
500 |a Ústav: Ústav elektrotechniky a měření 
500 |a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics 
500 |a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky 
506 |a Pouze v rámci univerzity 
653 |a contact potential 
653 |a scanning mechanism 
653 |a fingerprint 
653 |a kontaktní potenciál 
653 |a skenovací mechanismus 
653 |a otisk prstů 
655 4 |a diplomová práce 
700 1 |a Navrátil, Milan  |4 ths 
710 2 |a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics  |4 dgg 
710 2 |a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky  |4 dgg 
856 4 0 |u http://hdl.handle.net/10563/10635  |y Plný text v Digitální knihovně UTB