Microelectronics failure analysis : desk reference

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Authors: ASM International., Electronic Device Failure Analysis Society.
Other Authors: Ross, Richard J.
Format: eBook
Language: English
Published: Materials Park, Ohio : ASM International, ©2011.
Edition: 6th ed.
Subjects:
Microelectronics > Materials > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Microelectronics > Defects > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Electronics > Materials > Testing > Handbooks, manuals, etc.
Electronics > Materials > Defects > Handbooks, manuals, etc.
Electronics > Materials > Handbooks, manuals, etc.
elektronické knihy
electronic books
ISBN: 9781613447598
1613447590
9781615037261
1615037268
161503725X
9781615037254
Physical Description: 1 online resource (xi, 660 pages) : illustrations

Cover

Table of contents

LEADER 03656cam a2200529 a 4500
001 kn-ocn771901447
003 OCoLC
005 20240717213016.0
006 m o d
007 cr cn|||||||||
008 120109s2011 ohua obf 001 0 eng d
040 |a N$T  |b eng  |e pn  |c N$T  |d VLB  |d E7B  |d N$T  |d GZM  |d COO  |d ZCU  |d DEBSZ  |d B24X7  |d OCLCQ  |d KNOVL  |d YDXCP  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d STF  |d AZK  |d LOA  |d JBG  |d OCLCQ  |d AGLDB  |d CNNOR  |d OCLCQ  |d MOR  |d VT2  |d PIFAG  |d OCLCQ  |d U3W  |d BUF  |d OCLCF  |d WRM  |d VTS  |d CEF  |d RRP  |d INT  |d OCLCQ  |d WYU  |d OCLCQ  |d A6Q  |d AU@  |d M8D  |d S9I  |d OCL  |d OCLCQ  |d ERF  |d UWW  |d UKCRE  |d EYM  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCL  |d SXB 
020 |a 9781613447598  |q (electronic bk.) 
020 |a 1613447590  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781615037261  |q (electronic bk.) 
020 |a 1615037268  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781615037261  |q (e-book) 
020 |z 161503725X 
020 |z 9781615037254 
035 |a (OCoLC)771901447  |z (OCoLC)787848225  |z (OCoLC)961616903  |z (OCoLC)961849554  |z (OCoLC)962643476  |z (OCoLC)966202834  |z (OCoLC)988445263  |z (OCoLC)988461439  |z (OCoLC)991917281  |z (OCoLC)999509784  |z (OCoLC)999651716  |z (OCoLC)1037939840  |z (OCoLC)1038651327  |z (OCoLC)1055394908  |z (OCoLC)1060196154  |z (OCoLC)1062911107  |z (OCoLC)1081258211  |z (OCoLC)1083557626  |z (OCoLC)1086959568  |z (OCoLC)1086968768  |z (OCoLC)1105880722  |z (OCoLC)1124299839  |z (OCoLC)1153465780  |z (OCoLC)1194749555  |z (OCoLC)1228570779 
245 0 0 |a Microelectronics failure analysis :  |b desk reference /  |c edited by Richard J. Ross ; EDFAS, ASM International. 
246 3 |a Microelectronics failure analysis desk reference 
250 |a 6th ed. 
260 |a Materials Park, Ohio :  |b ASM International,  |c ©2011. 
300 |a 1 online resource (xi, 660 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
500 |a "ASM International, 2011, no. 09110Z"--Page 4 of cover 
500 |a Some online versions lack accompanying media packaged with the printed version. 
504 |a Includes bibliographical references and indexes. 
505 0 |a Section 1. Introduction -- section 2. Failure analysis process overviews -- section 3. Failure analysis topics -- section 4. Fault verification and classification -- section 5. Localization techniques -- section 6. Deprocessing and sample preparation -- section 7. Inspection -- section 8. Materials analysis -- section 9. Focused ion beam applications -- section 10. Management and reference information. 
506 |a Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty 
590 |a Knovel  |b Knovel (All titles) 
650 0 |a Microelectronics  |x Materials  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Microelectronics  |x Defects  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronic apparatus and appliances  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronics  |x Materials  |x Testing  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronics  |x Materials  |x Defects  |v Handbooks, manuals, etc. 
650 0 |a Electronics  |x Materials  |v Handbooks, manuals, etc. 
655 7 |a elektronické knihy  |7 fd186907  |2 czenas 
655 9 |a electronic books  |2 eczenas 
700 1 |a Ross, Richard J. 
710 2 |a ASM International. 
710 2 |a Electronic Device Failure Analysis Society. 
776 0 8 |i Print version:  |t Microelectronics failure analysis.  |b 6th ed.  |d Materials Park, Ohio : ASM International, ©2011  |z 161503725X  |w (OCoLC)701026679 
856 4 0 |u https://proxy.k.utb.cz/login?url=https://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpMFADRE01/microelectronics-failure-analysis?kpromoter=marc  |y Full text 

Similar Items