Microelectronics failure analysis : desk reference

• Other Authors: Ross, Richard J. (Editor)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Materials Park, Ohio : ASM International, [2011]
• Edition: Sixth edition
• Subjects: mikroelektronika; testování elektronických systémů; elektronická zařízení; vady materiálů; technická diagnostika; microelectronics; testing of electronic systems; electronic apparatus and appliances; material defects; technical diagnostics; příručky; handbooks and manuals
• ISBN: 9781615037254 1-61503-725-X; 978-1-61503-834-3
• Physical Description: xi, 660 stran : ilustrace ; 28 cm + 1 CD-ROM
• Item Description: Obsahuje bibliografie a rejstříky