Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Reimer, Ludwig, 1928-2001 (Author)
Format: Book
Language: English
Published: Berlin : Springer, [2010]
Edition: Second completly revised and updated edition
Series: Springer series in optical sciences
Subjects:
ISBN: 9783642083723
Physical Description: xiv, 527 stran : ilustrace ; 24 cm

Cover

Table of contents

LEADER 01677cam a2200421 i 4500
001 84227
003 CZ ZlUTB
005 20240829160522.0
007 ta
008 120521s2010 gw a 001 0 eng d
020 |a 9783642083723  |q (brožováno) 
040 |a ABB050  |b cze  |d ZLD002  |e rda 
072 7 |a 537  |x Elektřina  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 537.533.35  |2 MRF 
080 |a (048.8)  |2 MRF 
100 1 |a Reimer, Ludwig,  |d 1928-2001  |7 uk2007351448  |4 aut 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy :  |b physics of image formation and microanalysis /  |c Ludwig Reimer 
250 |a Second completly revised and updated edition 
264 1 |a Berlin :  |b Springer,  |c [2010] 
264 4 |c ©2010 
300 |a xiv, 527 stran :  |b ilustrace ;  |c 24 cm 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a bez média  |b n  |2 rdamedia 
338 |a svazek  |b nc  |2 rdacarrier 
490 1 |a Springer series in optical sciences,  |x 0342-4111 ;  |v volume 45 
500 |a Popsáno podle dotisku 
504 |a Obsahuje bibliografii a rejstřík 
650 0 7 |a skenovací elektronová mikroskopie  |7 ph184823  |2 czenas 
650 0 9 |a scanning electron microscopy  |2 eczenas 
655 7 |a monografie  |7 fd132842  |2 czenas 
655 9 |a monographs  |2 eczenas 
830 0 |a Springer series in optical sciences 
910 |a ZLD002 
992 |a BK  |b SK  |d 1 
998 |a 005314581 
999 |c 84227  |d 84227 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 537REIMERL  |7 0  |8 BOOK  |9 138005  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 005  |d 2016-10-24  |o 537/REIMER,L.  |p 420010167691  |r 2019-08-26  |v 4657.00  |w 2019-08-26  |x N:nákup;  |y 01 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 537REIMERL  |7 0  |8 BOOK  |9 138006  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 007  |d 2016-02-12  |l 1  |o 537/REIMER,L.  |p 420010165040  |r 2019-08-26  |v 4020.00  |w 2019-08-26  |x N:nákup;  |y 08