Properties of amorphous silicon and its alloys

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author INSPEC (Information service)
Other Authors Searle, Tim, Dr
Format Electronic eBook
LanguageEnglish
Published London : INSPEC, IEE, c1998.
SeriesEMIS datareviews series ; no. 19.
Subjects
Online AccessFull text
ISBN9780852969229
9781591248767
Physical Description1 online zdroj (xiv, 412 p.) : ill.

Cover

More Information
Bibliography:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9780852969229
9781591248767
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity
Physical Description:1 online zdroj (xiv, 412 p.) : ill.