Properties of amorphous silicon and its alloys

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author: INSPEC (Information service)
Other Authors: Searle, Tim, Dr.
Format: eBook
Language: English
Published: London : INSPEC, IEE, c1998.
Series: EMIS datareviews series ; no. 19.
Subjects:
ISBN: 9780852969229
9781591248767
Physical Description: 1 online zdroj (xiv, 412 p.) : ill.

Cover

Table of contents

Description
Bibliography: Includes bibliographical references and index.
ISBN: 9780852969229
9781591248767
Access: Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity