Properties of porous silicon

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author: INSPEC (Information service)
Other Authors: Canham, Leigh T.
Format: eBook
Language: English
Published: London : IEE : INSPEC, ©1987.
Series: EMIS datareviews series ; no. 18.
Subjects:
ISBN: 9781591248583
9780852969328
Physical Description: 1 online zdroj (xviii, 405 pages) : illustrations.

Cover

Table of contents

LEADER 01760cam a2200397 a 4500
001 77287
003 CZ ZlUTB
005 20200530180902.0
006 m o d
007 cr |n
008 051102s1987 enka sb 001 0 eng d
020 |a 9781591248583  |q (ebook) 
020 |z 9780852969328 
035 |a (OCoLC)62204557  |z (OCoLC)605540987  |z (OCoLC)636318716  |z (OCoLC)636318721 
040 |a KNOVL  |b eng  |e pn  |c KNOVL  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d KNOVL  |d ZCU  |d OCLCE  |d OCLCF  |d KNOVL  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d KNOVL 
245 0 0 |a Properties of porous silicon  |h [elektronický zdroj] /  |c edited by Leigh Canham. 
260 |a London :  |b IEE :  |b INSPEC,  |c ©1987. 
300 |a 1 online zdroj (xviii, 405 pages) :  |b illustrations. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a počítač  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online zdroj  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a EMIS datareviews series ;  |v no. 18 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
590 |a Knovel Library  |b ACADEMIC - Ceramics & Ceramic Engineering 
506 |a Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity 
650 0 |a Porous silicon. 
650 0 |a Semiconductors. 
655 7 |a elektronické knihy  |7 fd186907  |2 czenas 
655 9 |a electronic books  |2 eczenas 
700 1 |a Canham, Leigh T. 
710 2 |a INSPEC (Information service) 
776 0 8 |i Print version:  |t Properties of porous silicon.  |d London : IEE : INSPEC, ©1987  |z 0852969325  |w (OCoLC)38206806 
830 0 |a EMIS datareviews series ;  |v no. 18. 
856 4 0 |u https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpPPS00006/properties_of_porous_silicon  |y Plný text 
992 |a BK  |c KNOVEL 
999 |c 77287  |d 77287