Logic testing and design for testability

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Fujiwara, Hideo.
Format: eBook
Language: English
Published: Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985.
Series: MIT Press series in computer systems.
Subjects:
Logic circuits > Testing.
elektronické knihy
electronic books
ISBN: 9780262256186
Physical Description: 1 online zdroj (x, 284 p.) : ill.

Cover

Table of contents

LEADER 01402cam a2200325 a 4500
001 74978
003 CZ ZlUTB
005 20200530174410.0
006 m d
007 cr un
008 130208s1985 maua sb 001 0 eng d
020 |a 9780262256186  |q (ebook) 
035 |a (OCoLC)827009772 
040 |a IEEEE  |c IEEEE  |d OCLCF 
100 1 |a Fujiwara, Hideo. 
245 1 0 |a Logic testing and design for testability  |h [elektronický zdroj] /  |c Hideo Fujiwara. 
260 |a Cambridge, Mass. :  |b MIT Press,  |c c1985. 
300 |a 1 online zdroj (x, 284 p.) :  |b ill. 
490 1 |a MIT Press series in computer systems 
504 |a Bibliography: p. [272]-278. 
500 |a Includes index. 
506 |a Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity 
650 0 |a Logic circuits  |x Testing. 
655 7 |a elektronické knihy  |7 fd186907  |2 czenas 
655 9 |a electronic books  |2 eczenas 
776 0 8 |i Print version:  |a Fujiwara, Hideo.  |t Logic testing and design for testability.  |d Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985  |z 0262060965  |w (DLC) 85000084  |w (OCoLC)11650168 
830 0 |a MIT Press series in computer systems. 
856 4 0 |u https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264  |y Plný text 
992 |a BK  |c EBOOK-TN  |c MITPRESS 
999 |c 74978  |d 74978 

Similar Items