Logic testing and design for testability

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author Fujiwara, Hideo
Format eBook
LanguageEnglish
Published Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985.
SeriesMIT Press series in computer systems.
Subjects
Logic circuits > Testing.
elektronické knihy
electronic books
Online AccessFull text
ISBN9780262256186
Physical Description1 online zdroj (x, 284 p.) : ill.

Cover

More Information
Item Description:Includes index.
Bibliography:Bibliography: p. [272]-278.
ISBN:9780262256186
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity
Physical Description:1 online zdroj (x, 284 p.) : ill.

Similar Items