Lab VIEW run four point probe device : electrical characterization of semiconducting thin films made easy by four point probe system controlled by LabVIEW

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors Agumba, John (Author), Karimi, Patrick (Author), Okumu, John (Author)
Format Book
LanguageEnglish
Published Saarbrücken : LAP LAMBERT Academic Publishing, c2012
Subjects
fyzika tenkých vrstev
tenké vrstvy
polovodiče
elektrická vodivost
elektrické vlastnosti materiálů
zkoušení materiálů
automatizované měřicí systémy
physics of thin layers
thin films
semiconductors
electric conductivity
electric properties of materials
material testing
automated measuring systems
LabView
studie
studies
ISBN9783659134821
Physical Descriptionxix, 116 s. : il. ; 23 cm

Cover

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
001 70896
003 CZ-ZlUTB
005 20240829152950.0
007 ta
008 140404s2012 gw a f 001 0 eng d
020 |a 9783659134821  |q (brož.) 
040 |a ZLD002  |b cze 
072 7 |a 53  |x Fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 538.975  |2 MRF 
080 |a 539.216  |2 MRF 
080 |a 537.311.322  |2 MRF 
080 |a 537.31  |2 MRF 
080 |a 620-026.661  |2 MRF 
080 |a 620.1  |2 MRF 
080 |a 53.083-027.44  |2 MRF 
080 |a (048.8)  |2 MRF 
100 1 |a Agumba, John  |7 utb2014814803  |4 aut 
245 1 0 |a Lab VIEW run four point probe device :  |b electrical characterization of semiconducting thin films made easy by four point probe system controlled by LabVIEW /  |c John Agumba, Patrick Karimi, John Okumu 
260 |a Saarbrücken :  |b LAP LAMBERT Academic Publishing,  |c c2012 
300 |a xix, 116 s. :  |b il. ;  |c 23 cm 
500 |a Terminologický slovník 
504 |a Obsahuje bibliografii a rejstřík 
650 0 7 |a fyzika tenkých vrstev  |7 ph134790  |2 czenas 
650 0 7 |a tenké vrstvy  |7 ph126536  |2 czenas 
650 0 7 |a polovodiče  |7 ph124272  |2 czenas 
650 0 7 |a elektrická vodivost  |7 ph136999  |2 czenas 
650 0 7 |a elektrické vlastnosti materiálů  |7 ph386370  |2 czenas 
650 0 7 |a zkoušení materiálů  |7 ph116776  |2 czenas 
650 0 7 |a automatizované měřicí systémy  |7 ph114103  |2 czenas 
650 0 9 |a physics of thin layers  |2 eczenas 
650 0 9 |a thin films  |2 eczenas 
650 0 9 |a semiconductors  |2 eczenas 
650 0 9 |a electric conductivity  |2 eczenas 
650 0 9 |a electric properties of materials  |2 eczenas 
650 0 9 |a material testing  |2 eczenas 
650 0 9 |a automated measuring systems  |2 eczenas 
653 |a LabView 
655 7 |a studie  |7 fd133597  |2 czenas 
655 9 |a studies  |2 eczenas 
700 1 |a Karimi, Patrick  |4 aut 
700 1 |a Okumu, John  |4 aut 
910 |a ZLD002 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 53AGUMBAJ  |7 0  |8 BOOK  |9 127379  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 015  |d 2014-04-04  |l 2  |m 1  |o 53/AGUMBA,J.  |p 420010153731  |q 2028-12-21  |r 2019-08-26 00:00:00  |v 2000.00  |w 2019-08-26  |x N:nákup;  |y 08 
992 |a BK  |b SK  |d 2 
999 |c 70896  |d 70896 

Similar Items