Lab VIEW run four point probe device : electrical characterization of semiconducting thin films made easy by four point probe system controlled by LabVIEW

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors Agumba, John (Author), Karimi, Patrick (Author), Okumu, John (Author)
Format Book
LanguageEnglish
Published Saarbrücken : LAP LAMBERT Academic Publishing, c2012
Subjects
fyzika tenkých vrstev
tenké vrstvy
polovodiče
elektrická vodivost
elektrické vlastnosti materiálů
zkoušení materiálů
automatizované měřicí systémy
physics of thin layers
thin films
semiconductors
electric conductivity
electric properties of materials
material testing
automated measuring systems
LabView
studie
studies
ISBN9783659134821
Physical Descriptionxix, 116 s. : il. ; 23 cm

Cover

More Information
Item Description:Terminologický slovník
Bibliography:Obsahuje bibliografii a rejstřík
ISBN:9783659134821
Physical Description:xix, 116 s. : il. ; 23 cm

Similar Items