Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Haugstad, Greg, 1963- (Author)
Format: Book
Language: English
Published: Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons, c2012
Subjects:
mikroskopie atomárních sil
atomic force microscopy
monografie
monographs
ISBN: 9780470638828
Physical Description: xxii, 464 s. : il. ; 25 cm

Cover

Table of contents

LEADER 01608cam a2200361 a 4500
001 66729
003 CZ ZlUTB
005 20190826004443.0
007 ta
008 120302s2012 xxua b 001 0 eng
020 |a 9780470638828  |q (váz.) 
040 |a DLC  |b cze  |c DLC  |d DLC  |d ZLD002 
072 7 |a 53  |x Fyzika  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a [53.086:004.352]:539.186  |2 MRF 
080 |a (048.8)  |2 MRF 
100 1 |a Haugstad, Greg,  |d 1963-  |7 utb2013743000  |4 aut 
245 1 0 |a Atomic force microscopy :  |b understanding basic modes and advanced applications /  |c Greg Haugstad 
260 |a Hoboken, N.J. :  |b John Wiley & Sons,  |c c2012 
300 |a xxii, 464 s. :  |b il. ;  |c 25 cm 
504 |a Obsahuje bibliografie a rejstřík 
650 0 7 |a mikroskopie atomárních sil  |7 ph443887  |2 czenas 
650 0 9 |a atomic force microscopy  |2 eczenas 
655 7 |a monografie  |7 fd132842  |2 czenas 
655 9 |a monographs  |2 eczenas 
856 4 2 |3 Anotace  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1210/2012003429-d.html 
856 4 2 |3 Biografické informace  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1215/2012003429-b.html 
856 4 1 |3 Obsah  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1215/2012003429-t.html 
910 |a ZLD002 
992 |a BK  |b SK  |d 2 
993 |a 201301  |b 6 
999 |c 66729  |d 66729 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 53HAUGSTADG  |7 0  |8 BOOK  |9 120798  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 007  |d 2013-01-23  |l 1  |m 1  |o 53/HAUGSTAD,G.  |p 420010147807  |q 2028-12-21  |r 2019-08-26  |v 3170.00  |w 2019-08-26  |x N:nákup;  |y 08 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 53HAUGSTADG  |7 0  |8 BOOK  |9 120799  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 041  |d 2014-02-21  |l 1  |o 53/HAUGSTAD,G.  |p 420010152981  |r 2019-08-26  |v 2638.00  |w 2019-08-26  |x N:nákup  |y 08 

Similar Items