28nm体硅工艺FPGA BRAM脉冲激光试验及翻转特性 - 薛国凤; 周昌义; 安军社; 吴昊; 王天文 (空间科学学报, 2024)
Keywords: BRAM翻转图样; Single event effect; BRAM upset pattern; Pulsed laser; 单粒子翻转容错; 脉冲激光; SEU fault-tolerant; 多单元翻转(MCU); Multiple-Cell Upset(MCU); 单粒子效应