深度次临界工况下的控制棒价值测量技术研究 - 司胜义; 卑华; 陈伦寿; 钱仲悠; 杜超; 高明敏; 杨高升 (核技术, 2025)
TL375; 与传统控制棒价值测量技术不同,深度次临界工况下的控制棒价值测量(以下简称次临界刻棒),依托达临界试验的提棒过程,在全插棒至全提棒的大跨度临界区间进行控制棒价值测量.作为一种全新的控制棒价值测量方法,其棒价值的计算和分析与传统的方法有较大的差异,需要开展相关研究.深度次临界工况下,堆芯中子源强的空间分布显著不均匀,传统的基于点堆模型的临界外推公式不再适用,须对源量程中子计数率进行相应的空间修正,确保修正后的源量程探测器的计数率倒数比与反应堆次临界度维持良好的线性关系,从而能够精确预测反应堆的次临界度,并通过拟合的方式给出不同棒组的价值.为了对次临界刻棒系统进行验证,在三门核电厂AP1000机型上开展了两次验证试验,各组棒价值均满足验收准则.验证结果表明,开发的次临界刻棒系统具有一定的可靠性,能够满足次临界刻棒试验的要求.