正电子湮没寿命测量中干扰信号对谱仪和测量结果的影响 - 王垒; 彭雄刚; 张红强; 于润升; 张鹏; 伍海彪; 吴亚茹; 王宝义; 曹兴忠; 肖德涛; 刘福雁 (核技术, 2023)
Keywords: 偶然符合; 峰谷比; 错误符合; 活度比; 寿命谱