基于PILATUS探测器的von Hamos构型X射线发射谱谱仪及数据获取 - 顾颂琦; 梅丙宝; 姜政; 黄宇营 (核技术, 2022)
TL81; 高能量分辨X射线发射谱(X-ray Emission Spectroscopy,XES)比常规X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)具有更高的能量分辨率,是探究物质精细电子结构的有力工具.PILATUS探测器是一种没有暗电流和读出噪声的单光子计数探测器,基于该探测器,在上海光源BL14W1线站搭建了一套von Hamos构型XES谱仪及数据获取系统,能量分辨率达到eV量级,接近此类构型光谱仪的世界先进水平.该光谱仪采用PILATUS探测器作为位置灵敏探测器使用,并结合线站单色器和KOHZU平台系统开发了一套基于LabVIEW软件的XES数据获取系统.对光谱仪系统进行了能量分辨率测试和CuO发射谱测量实验,获得样品发射的能量为8046 eV弹性散射峰的半高宽(Full-Width at Half Maximum,FWHM)为1.67 eV,表明基于PILATUS探测器的von Hamos构型XES谱仪系统可以满足高能量分辨实验的需求.