基于耦合目标的近场双站散射测试方法
TN95; 对于近场散射测试中存在多次耦合目标,从近场数据外推远场雷达散射截面时,需要完备的双站散射信息.传统的双站散射测试方法中,远场观测点的数目等于扫描面上的天线数目,测量所需时间成倍增加,难以工程化.因此,根据截断角域的选取原则,结合采样间隔设计了一种“一发多收结合转台旋转”的近场散射测试方法,用以验证“多发多收”双站模式的近远场外推方法的有效性和误差大小.通过在微波暗室对二面角进行测试,验证了该外推算法的正确性以及实验系统的可行性....
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| Published in | 系统工程与电子技术 Vol. 41; no. 4; pp. 759 - 764 |
|---|---|
| Main Authors | , , , , |
| Format | Journal Article |
| Language | Chinese |
| Published |
西北工业大学无人机特种技术重点实验室,陕西西安710065
01.04.2019
西北工业大学电子信息学院,陕西西安,710072%西北工业大学电子信息学院,陕西西安710072 |
| Subjects | |
| Online Access | Get full text |
| ISSN | 1001-506X |
| DOI | 10.3969/j.issn.1001-506X.2019.04.09 |
Cover
| Summary: | TN95; 对于近场散射测试中存在多次耦合目标,从近场数据外推远场雷达散射截面时,需要完备的双站散射信息.传统的双站散射测试方法中,远场观测点的数目等于扫描面上的天线数目,测量所需时间成倍增加,难以工程化.因此,根据截断角域的选取原则,结合采样间隔设计了一种“一发多收结合转台旋转”的近场散射测试方法,用以验证“多发多收”双站模式的近远场外推方法的有效性和误差大小.通过在微波暗室对二面角进行测试,验证了该外推算法的正确性以及实验系统的可行性. |
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| ISSN: | 1001-506X |
| DOI: | 10.3969/j.issn.1001-506X.2019.04.09 |