真空渗碳铼带用于痕量铀同位素比的测量 - 徐常昆; 陈彦; 李力力 (质谱学报, 2019)
O657.63; 离子化效率低是制约热电离质谱(T IM S)准确测量痕量铀同位素比的主要因素之一.对铼带进行渗碳处理能够增强铀的离子化效率,从而提高T IM S测量痕量铀的能力.本研究采用简易的渗碳装置,在不同条件下对铼带进行渗碳处理.采用全蒸发法测量痕量铀样品的离子化效率及同位素比,对比不同渗碳条件对离子化效率及质量歧视系数的影响.较优的渗碳条件为:苯蒸气压0.1 Pa,渗碳电流2.5 A,渗碳时间1 h.采用这种铼带对10 pg铀样品的离子化效率可达0.25％,约是双带法的5倍.对于10 pg样品,235 U/238 U测量的外精度在1％ 以内,234 U/238 U、236 U/238 U测量的外精度小于5％.渗碳铼带还能够实现对1～2 pg铀样品的测量,对1 pg的CRM020A、2 pg的IRMM184样品,235 U/238 U测量的外精度小于1％,234 U/238 U测量的外精度小于5％.