基于改进六步翻转法的平行平板面形及均匀性绝对检测方法

TN247; 本文提出了一种改进六步翻转法,同时实现平行平板均匀性以及绝对面形的测量,结合相应的稀疏迭代算法,进一步实现高精度的均匀性和绝对面形误差的重构.通过相应的理论分析和实验验证工作,进一步证明了该方法的有效性和达到亚纳米级检测精度的能力.利用本文所提出的方法与传统绝对平面检测方法以及材料均匀性测量方法进行交叉对比,其中绝对平面测量结果之间差异优于1.7 nm RMS,均匀性测量精度差异不超过2.3 nm RMS.实验结果表明了两者具有高度一致性,同时具有较好的重复性,验证了文章提出的方法的准确性.并且根据不确定度分析表明,该方法与传统的透射法相比提高了测量精度....

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Published in光电工程 Vol. 48; no. 7; pp. 23 - 31
Main Authors 张帅, 全海洋, 侯溪, 胡小川, 吴高峰
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209 15.07.2021
中国科学院大学,北京 100049%中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209
Subjects
不确定度评估
绝对检测
干涉计量
光学检测
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ISSN1003-501X
DOI10.12086/oee.2021.210047

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Abstract TN247; 本文提出了一种改进六步翻转法,同时实现平行平板均匀性以及绝对面形的测量,结合相应的稀疏迭代算法,进一步实现高精度的均匀性和绝对面形误差的重构.通过相应的理论分析和实验验证工作,进一步证明了该方法的有效性和达到亚纳米级检测精度的能力.利用本文所提出的方法与传统绝对平面检测方法以及材料均匀性测量方法进行交叉对比,其中绝对平面测量结果之间差异优于1.7 nm RMS,均匀性测量精度差异不超过2.3 nm RMS.实验结果表明了两者具有高度一致性,同时具有较好的重复性,验证了文章提出的方法的准确性.并且根据不确定度分析表明,该方法与传统的透射法相比提高了测量精度.
AbstractList TN247; 本文提出了一种改进六步翻转法,同时实现平行平板均匀性以及绝对面形的测量,结合相应的稀疏迭代算法,进一步实现高精度的均匀性和绝对面形误差的重构.通过相应的理论分析和实验验证工作,进一步证明了该方法的有效性和达到亚纳米级检测精度的能力.利用本文所提出的方法与传统绝对平面检测方法以及材料均匀性测量方法进行交叉对比,其中绝对平面测量结果之间差异优于1.7 nm RMS,均匀性测量精度差异不超过2.3 nm RMS.实验结果表明了两者具有高度一致性,同时具有较好的重复性,验证了文章提出的方法的准确性.并且根据不确定度分析表明,该方法与传统的透射法相比提高了测量精度.
Author 胡小川
侯溪
全海洋
吴高峰
张帅
AuthorAffiliation 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209;中国科学院大学,北京 100049%中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209
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Wu Gaofeng
Hou Xi
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