基于自适应多点法的sCMOS实时非均匀性校正

TN36; 为改善sCMOS读出电路工艺偏差导致的非均匀性问题,本文提出了自适应多点非均匀性校正方法.算法首先以搜寻最小范数点、阈值比较的方式分别确定最优分段点的位置以及最佳分段数量,然后再根据这些分段信息在各区间段分别进行两点校正.通过该自适应方法可有效改善传统多点法中由于分段参数选择不当导致的校正性能下降.同时,为实现实时的非均匀性校正,文中根据自适应多点法的算法特点,提出了一种与之匹配的嵌入式数据串流校正方案,可在不影响现有相机采集结构以及采集速率的情况下实现非均匀性的校正....

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Published in光电工程 Vol. 48; no. 5; pp. 83 - 90
Main Authors 张涛, 李新阳, 李剑峰, 徐稚
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209 15.05.2021
电子科技大学光电科学与工程学院,四川 成都 610054
中国科学院云南天文台,云南 昆明 650216%中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209%电子科技大学光电科学与工程学院,四川 成都 610054%中国科学院云南天文台,云南 昆明 650216
Subjects
非均匀性
多点法
自适应
实时处理
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ISSN1003-501X
DOI10.12086/oee.2021.210036

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Abstract TN36; 为改善sCMOS读出电路工艺偏差导致的非均匀性问题,本文提出了自适应多点非均匀性校正方法.算法首先以搜寻最小范数点、阈值比较的方式分别确定最优分段点的位置以及最佳分段数量,然后再根据这些分段信息在各区间段分别进行两点校正.通过该自适应方法可有效改善传统多点法中由于分段参数选择不当导致的校正性能下降.同时,为实现实时的非均匀性校正,文中根据自适应多点法的算法特点,提出了一种与之匹配的嵌入式数据串流校正方案,可在不影响现有相机采集结构以及采集速率的情况下实现非均匀性的校正.
AbstractList TN36; 为改善sCMOS读出电路工艺偏差导致的非均匀性问题,本文提出了自适应多点非均匀性校正方法.算法首先以搜寻最小范数点、阈值比较的方式分别确定最优分段点的位置以及最佳分段数量,然后再根据这些分段信息在各区间段分别进行两点校正.通过该自适应方法可有效改善传统多点法中由于分段参数选择不当导致的校正性能下降.同时,为实现实时的非均匀性校正,文中根据自适应多点法的算法特点,提出了一种与之匹配的嵌入式数据串流校正方案,可在不影响现有相机采集结构以及采集速率的情况下实现非均匀性的校正.
Author 张涛
李新阳
李剑峰
徐稚
AuthorAffiliation 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209;电子科技大学光电科学与工程学院,四川 成都 610054;中国科学院云南天文台,云南 昆明 650216%中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209%电子科技大学光电科学与工程学院,四川 成都 610054%中国科学院云南天文台,云南 昆明 650216
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Xu Zhi
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