拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化 - 罗倩; 吴时彬; 汪利华; 杨伟; 范斌 / Luo Qian; Wu, Shibin; Wang, Lihua; Yang, Wei; Fan, Bin (Guang Dian Gong Cheng = Opto-Electronic Engineering, 2018)
稀疏子孔径拼接检测是大口径、超大口径光学系统像质检测的主要方法之一，其拼接检测的精度与子孔径排列方式、数目以及大小密切相关。本文通过建立数学模型，推导出子孔径个数k在1到无穷区间取值，子孔径个数k与填充因子M的关系曲线，从而得出在1.5 m以下系统检测的最优的七个稀疏子孔径排列布局图，并通过Φ200 mm自准干涉检验，验证了这种排列布局的合理性。