APA (7th ed.) Citation

Son), 손., & Kim), 김. (2021). SSD 신뢰성 향상을 위한 3D 낸드 플래시 메모리 오류율에 따른 K-means 클러스터링 분석 및 차별화된 보호 정책. 한국컴퓨터정보학회논문지, 26(11), 1-9. https://doi.org/10.9708/jksci.2021.26.11.001

Chicago Style (17th ed.) Citation

Son), 손승우(Seung-Woo, and 김재호(Jae-Ho Kim). "SSD 신뢰성 향상을 위한 3D 낸드 플래시 메모리 오류율에 따른 K-means 클러스터링 분석 및 차별화된 보호 정책." 한국컴퓨터정보학회논문지 26, no. 11 (2021): 1-9. https://doi.org/10.9708/jksci.2021.26.11.001.

MLA (9th ed.) Citation

Son), 손승우(Seung-Woo, and 김재호(Jae-Ho Kim). "SSD 신뢰성 향상을 위한 3D 낸드 플래시 메모리 오류율에 따른 K-means 클러스터링 분석 및 차별화된 보호 정책." 한국컴퓨터정보학회논문지, vol. 26, no. 11, 2021, pp. 1-9, https://doi.org/10.9708/jksci.2021.26.11.001.