광픽업 유닛 기반 원자현미경의 Dynamic 모드 측정용 Lock-in Amplifier - Mark A. Cruz; 송수환(Su-Hwan Song); 이상헌(Sang Heon Lee) (한국생산제조학회지, 2019)
Keywords: 기계공학; Dynamic imaging mode; Atomic force microscopy; Scanning probe microscopy; Lock-in amplifier; Displacement sensor