APA (7th ed.) Citation

Choi), 최. H., & Son), 손. (2022). 전자부품 커넥터의 접속 신뢰성 향상을 위한 Au-Sn 합금 도금층 연구. Biuletyn Uniejowski, 55(6), 408-416. https://doi.org/10.5695/JSSE.2022.55.6.408

Chicago Style (17th ed.) Citation

Choi), 최종환(Jong Hwan, and 손인준(Injoon Son). "전자부품 커넥터의 접속 신뢰성 향상을 위한 Au-Sn 합금 도금층 연구." Biuletyn Uniejowski 55, no. 6 (2022): 408-416. https://doi.org/10.5695/JSSE.2022.55.6.408.

MLA (9th ed.) Citation

Choi), 최종환(Jong Hwan, and 손인준(Injoon Son). "전자부품 커넥터의 접속 신뢰성 향상을 위한 Au-Sn 합금 도금층 연구." Biuletyn Uniejowski, vol. 55, no. 6, 2022, pp. 408-416, https://doi.org/10.5695/JSSE.2022.55.6.408.