APA (7th ed.) Citation

加藤, 敏., 三宅, 英., 高橋, 彰., & 川口, 正. (1981). コーティング層と下地高分子の間の界面層の厚さのだ円偏光解析法による測定. 高分子論文集, 38(5), 349-353. https://doi.org/10.1295/koron.38.349

Chicago Style (17th ed.) Citation

加藤, 敏文, 英司 三宅, 彰 高橋, and 正美 川口. "コーティング層と下地高分子の間の界面層の厚さのだ円偏光解析法による測定." 高分子論文集 38, no. 5 (1981): 349-353. https://doi.org/10.1295/koron.38.349.

MLA (9th ed.) Citation

加藤, 敏文, et al. "コーティング層と下地高分子の間の界面層の厚さのだ円偏光解析法による測定." 高分子論文集, vol. 38, no. 5, 1981, pp. 349-353, https://doi.org/10.1295/koron.38.349.