画像処理による被害粒の非破壊検出法に関する研究 - 窪田, 陽介; 元永, 佳孝; 野口, 貴義; 中野, 和弘 (JOURNAL of the JAPANESE SOCIETY of AGRICULTURAL MACHINERY, 2002)
Keywords: 外観品質; 玄米; 画像処理; 籾; 被害粒